(19)
(11) EP 1 159 449 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
03.05.2001

(43) Veröffentlichungstag:
05.12.2001  Patentblatt  2001/49

(21) Anmeldenummer: 00907635.7

(22) Anmeldetag:  25.02.2000
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: C12Q 1/68
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP0001/595
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0052/201 (08.09.2000 Gazette  2000/36)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE

(30) Priorität: 02.03.1999 DE 19909156

(71) Anmelder: Aventis Research & Technologies GmbH & Co. KG
65926 Frankfurt am Main (DE)

(72) Erfinder:
  • HÜLS, Christoph
    D-71696 Möglingen (DE)
  • BAUER, Bettina
    D-65795 Hattersheim (DE)
  • SIMANDI, Claus
    D-40699 Erkrath (DE)
  • LÜHRMANN, Reinhard
    D-35041 Marburg (DE)
  • ACHSEL, Tilmann
    D-37085 Göttingen (DE)
  • VORNLOCHER, Hans-Peter
    D-35041 Marburg/Wehrda (DE)

(74) Vertreter: Ackermann, Joachim, Dr. 
Postfach 11 13 26
60048 Frankfurt am Main
60048 Frankfurt am Main (DE)

   


(54) TESTSYSTEM ZUM NACHWEIS EINER SPLEISSREAKTION, SOWIE DESSEN VERWENDUNG