(19)
(11) EP 1 206 704 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
22.05.2002  Patentblatt  2002/21

(21) Anmeldenummer: 00960437.2

(22) Anmeldetag:  10.08.2000
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01R 1/067, G01R 1/073
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP0007/793
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0114/893 (01.03.2001 Gazette  2001/09)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 23.08.1999 DE 19939955

(71) Anmelder: ATG TEST SYSTEMS GmbH & Co. KG
97877 Wertheim (DE)

(72) Erfinder:
  • PROKOPP, Manfred
    97877 Wertheim-Reicholzheim (DE)
  • OTT, Bernd
    74405 Gaildorf (DE)

(74) Vertreter: Ganahl, Bernhard 
Reinhardt-Söllner-Ganahl,P.O. Box 12 26
85542 Kirchheim b. München
85542 Kirchheim b. München (DE)

   


(54) PRÜFNADEL FÜR EINEN RASTERANPASSUNGSADAPTER EINER VORRICHTUNG ZUM TESTEN VON LEITERPLATTEN