(19)
(11) EP 1 216 766 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
06.05.2004  Patentblatt  2004/19

(43) Veröffentlichungstag A2:
26.06.2002  Patentblatt  2002/26

(21) Anmeldenummer: 01128696.0

(22) Anmeldetag:  01.12.2001
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: B21B 38/12
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 21.12.2000 DE 10063773

(71) Anmelder: SMS Demag AG
40237 Düsseldorf (DE)

(72) Erfinder:
  • Schulze, Stefan
    40878 Ratingen (DE)

(74) Vertreter: Valentin, Ekkehard, Dipl.-Ing. 
Patentanwälte Hemmerich & Kollegen, Hammerstrasse 2
57072 Siegen
57072 Siegen (DE)

   


(54) Konturmesseinrichtung und Verfahren zur Messung einer Kontur


(57) Eine Konturmeßeinrichtung (12) zur Messung der Kontur einer an einem Walzgerüst (2) angeordneten Walze (4) mit einer Anzahl von Abstandssensoren (20), von denen jeder zur Ermittlung seines jeweiligen Abstands zur Oberfläche (22) der Walze (4) ausgelegt ist, soll auch unter vergleichsweise widrigen Bedingungen eine Bestimmung der Kontur der Walze (4) mit besonders hoher Genauigkeit gewährleisten und zudem auch eine Bestimmung der räumlichen Position der Walze (4), insbesondere im Verhältnis zu anderen Walzen, ermöglichen. Dazu umfaßt die Konturmeßeinrichtung (12) erfindungsgemäß ein Meßsystem (30) zur Ermittlung der Position jedes Abstandssensors (20) relativ zu einem Fixpunkt (32) des Walzgerüsts (2). Beim Verfahren zur Ermittlung der Kontur der Walze (4) wird in der Art einer zweikomponentigen Ausgestaltung einerseits für eine Anzahl von Abstandssensoren (20) ihr jeweiliger Abstand zur Oberfläche (22) der Walze (4) ermittelt, wobei andererseits die Position jedes Abstandssensors (20) relativ zum Fixpunkt (32) des Walzgerüsts (2) ermittelt wird.






Recherchenbericht