(19)
(11) EP 1 230 013 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
30.08.2001

(43) Veröffentlichungstag:
14.08.2002  Patentblatt  2002/33

(21) Anmeldenummer: 00981146.4

(22) Anmeldetag:  16.10.2000
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7B01J 19/00, B01L 3/00
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE0003/664
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0126/797 (19.04.2001 Gazette  2001/16)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 15.10.1999 DE 19949735

(71) Anmelder: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderungder Wissenschaften e.V.
80539 München (DE)

(72) Erfinder:
  • EICKHOFF, Holger
    27211 Bassum (DE)
  • NORDHOFF, Eckhard
    14195 Berlin (DE)
  • FRANZEN, Jochen
    28359 Bremen (DE)
  • SCHÜRENBERG, Martin
    27412 Tarmstedt (DE)

(74) Vertreter: Bohmann, Armin K., Dr. 
Bohmann & Loosen,Anwaltssozietät,Sonnenstrasse 8
80331 München
80331 München (DE)

   


(54) PROZESSIEREN VON PROBEN IN LÖSUNGEN MIT DEFINIERT KLEINER WANDKONTAKTFLÄCHE