(19)
(11) EP 1 238 262 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
29.11.2001

(43) Veröffentlichungstag:
11.09.2002  Patentblatt  2002/37

(21) Anmeldenummer: 00991062.1

(22) Anmeldetag:  14.12.2000
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01N 21/00
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE0004/456
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0104/4788 (21.06.2001 Gazette  2001/25)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 15.12.1999 DE 19960586

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • MAIER, Peter
    76229 Karlsruhe (DE)

   


(54) VERFAHREN UND EINRICHTUNG ZUR MESSUNG VON KENNGRÖSSEN EINER PROBE