MICROSYSTEME MAGNETOMETRIQUE ET INCLINOMETRIQUE POUR LA SURVEILLANCE D'OBJETS DE VALEUR - Patent 1264291

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EP 1 264 291 A1

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(43)	Date de publication:
	11.12.2002 Bulletin 2002/50

(21)	Numéro de dépôt: 01913992.2

(22)	Date de dépôt: 13.03.2001

(51)	Int. Cl.⁷: G08B 13/14

(86)	Numéro de dépôt:
	PCT/FR0100/740

(87)	Numéro de publication internationale:
	WO 0106/9561 (20.09.2001 Gazette 2001/38)

(84)	Etats contractants désignés:
	AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

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Priorité:

14.03.2000 FR 0003237

(71)	Demandeur: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE
	75752 Paris Cédex 15 (FR)

(72)	Inventeurs:
	BLANPAIN, Roland F-38380 Entre-Deux-Guiers (FR) DELAPIERRE, Gilles F-38180 Seyssins (FR)

(74)	Mandataire: Ilgart, Jean-Christophe et al
	BREVALEX3, rue du Docteur Lanceraux 75008 Paris 75008 Paris (FR)

(54)	MICROSYSTEME MAGNETOMETRIQUE ET INCLINOMETRIQUE POUR LA SURVEILLANCE D'OBJETS DE VALEUR