(19)
(11) EP 1 269 204 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
25.04.2002

(43) Veröffentlichungstag:
02.01.2003  Patentblatt  2003/01

(21) Anmeldenummer: 01915081.2

(22) Anmeldetag:  05.03.2001
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01R 31/27, G01R 31/26
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE0100/835
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0106/7601 (13.09.2001 Gazette  2001/37)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

(30) Priorität: 10.03.2000 DE 10011657

(71) Anmelder: Infineon Technologies AG
81541 München (DE)

(72) Erfinder:
  • KOLLMER, Ute
    81737 München (DE)
  • SCHAPER, Ulrich
    81737 München (DE)
  • LINNENBANK, Carsten
    80636 München (DE)
  • THEWES, Roland
    82194 Gröbenzell (DE)

(74) Vertreter: Viering, Jentschura & Partner 
Steinsdorfstrasse 6
80538 München
80538 München (DE)

   


(54) TEST-SCHALTUNGSANORDNUNG UND VERFAHREN ZUM TESTEN EINER VIELZAHL VON TRANSISTOREN