(19)
(11) EP 1 279 016 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
29.01.2003  Patentblatt  2003/05

(21) Anmeldenummer: 01940151.2

(22) Anmeldetag:  10.04.2001
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01N 1/04, G01N 1/28, G02B 21/32, B23K 26/00, B23K 26/06
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE0101/414
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0107/9806 (25.10.2001 Gazette  2001/43)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

(30) Priorität: 13.04.2000 DE 10018255

(71) Anmelder: Leica Microsystems Wetzlar GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • GANSER, Michael
    35398 Giessen (DE)
  • WEISS, Albrecht
    35440 Linden (DE)
  • STENZEL, Rüdiger
    57271 Hilchenbach (DE)

(74) Vertreter: Reichert, Werner F., Dr. 
Leica Microsystems International Holdings GmbH,Konzernstelle Patente + Marken,Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar
35578 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM LASERSCHNEIDEN MIKROSKOPISCHER PROBEN