(19)
(11) EP 1 297 316 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
02.04.2003  Patentblatt  2003/14

(21) Anmeldenummer: 01944955.2

(22) Anmeldetag:  22.05.2001
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01M 11/00
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE0101/975
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0109/4905 (13.12.2001 Gazette  2001/50)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

(30) Priorität: 07.06.2000 DE 10028144

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • GLINGENER, Christoph
    83620 Feldkirchen-Westerham (DE)
  • GOTTWALD, Erich
    83607 Holzkirchen (DE)

   


(54) MESSVERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER NICHTLINEARITÄTEN EINER OPTISCHEN FASER