(19)
(11) EP 1 305 620 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
02.05.2003  Patentblatt  2003/18

(21) Anmeldenummer: 01969386.0

(22) Anmeldetag:  14.07.2001
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01N 30/95
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP0108/133
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0200/8747 (31.01.2002 Gazette  2002/05)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 26.07.2000 DE 10036293

(71) Anmelder: Lutfmann, Heinrich
48329 Havixbeck (DE)

(72) Erfinder:
  • Lutfmann, Heinrich
    48329 Havixbeck (DE)

(74) Vertreter: Hoffmeister, Helmut, Dr. Dipl.-Phys. 
PatentanwaltGoldstrasse 36
48147 Münster
48147 Münster (DE)

   


(54) VORRICHTUNG ZUR VORBEREITUNG DER QUALITATIVEN UND QUANTITATIVEN ANALYSE VON SUBSTANZFLECKEN AUF EINER DÜNNSCHICHTPLATTE