(19)
(11) EP 1 404 520 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
13.02.2003

(43) Veröffentlichungstag:
07.04.2004  Patentblatt  2004/15

(21) Anmeldenummer: 02735232.7

(22) Anmeldetag:  08.04.2002
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: B32B 27/18, C08K 5/00, C08K 5/42
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2002/003853
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2002/085613 (31.10.2002 Gazette  2002/44)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 20.04.2001 DE 10119416

(71) Anmelder: Bayer MaterialScience AG
51368 Leverkusen (DE)

(72) Erfinder:
  • GORNY, Rüdiger
    Moon Twp., PA 15108 (US)
  • ANDERS, Siegfried
    51147 Köln (DE)
  • NISING, Wolfgang
    53757 St. Augustin (DE)
  • DÖBLER, Martin
    40593 Düsseldorf (DE)
  • RÖHNER, Jürgen
    51069 Köln (DE)

   


(54) MEHRSCHICHTSYSTEME ENTHALTEND ANTISTATISCHE FORMMASSEN