SYSTEME DE MESURE ET DE LOCALISATION UTILISANT LES BASES TROIS ET NEUF ET APPLICATIONS CORRESPONDANTES - Patent 1412701

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EP 1 412 701 A2

(12)

(88)	Date de publication A3:
	09.10.2003

(43)	Date de publication:
	28.04.2004 Bulletin 2004/18

(21)	Numéro de dépôt: 02759820.0

(22)	Date de dépôt: 05.04.2002

(51)	Int. Cl.⁷: G01C 21/20, G09B 29/00

(86)	Numéro de dépôt:
	PCT/FR2002/001203

(87)	Numéro de publication internationale:
	WO 2002/082014 (17.10.2002 Gazette 2002/42)

(84)	Etats contractants désignés:
	AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR
	Etats d'extension désignés:
	AL LT LV MK RO SI

(30)

Priorité:

05.04.2001 FR 0104656

(71)	Demandeur: Segur, Patrick
	75116 Paris (FR)

(72)	Inventeur:
	Segur, Patrick 75116 Paris (FR)

(74)	Mandataire: Breese, Pierre et al
	Breese - Majerowicz - Simonnot3, avenue de l'Opéra 75001 Paris 75001 Paris (FR)

(54)	SYSTEME DE MESURE ET DE LOCALISATION UTILISANT LES BASES TROIS ET NEUF ET APPLICATIONS CORRESPONDANTES