(19)
(11) EP 1 423 676 B8

(12) KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFT
Hinweis: Bibliographie entspricht dem neuesten Stand

(15) Korrekturinformation:
Korrigierte Fassung Nr.  1 (W1 B1)

(48) Corrigendum ausgegeben am:
19.01.2011  Patentblatt  2011/03

(45) Hinweis auf die Patenterteilung:
03.11.2010  Patentblatt  2010/44

(21) Anmeldenummer: 02762251.3

(22) Anmeldetag:  23.08.2002
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 11/14(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2002/003119
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/019152 (06.03.2003 Gazette  2003/10)

(54)

VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG RHEOLOGISCHER EIGENSCHAFTEN

DEVICE FOR DETERMINING RHEOLOGICAL PROPERTIES

DISPOSITIF DE DETERMINATION DE PROPRIETES RHEOLOGIQUES

(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR

(30) Priorität: 24.08.2001 DE 10140711

(43) Veröffentlichungstag der Anmeldung:
02.06.2004  Patentblatt  2004/23

(73) Patentinhaber: Feustel, Manfred
89171 Illerkirchberg (DE)

(72) Erfinder:
  • Feustel, Manfred
    89171 Illerkirchberg (DE)

(74) Vertreter: Scheffler, Jörg et al
Adelheidstrasse 5
30171 Hannover
30171 Hannover (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
US-A- 4 435 080
 US-B1- 6 167 752
   
  • SKYTT M-L ET AL: "A NEW RHEOMETER MEASURING INFRARED DICHROISM IN MOLTEN POLYMERS SUBJECTED TO TRANSIENT AND STEADY SHEAR FLOW" POLYMER ENGINEERING & SCIENCE, SOCIETY OF PLASTICS ENGINEERS, US, Bd. 36, Nr. 13, 15. Juli 1996 (1996-07-15), Seiten 1737-1744, XP000637037 ISSN: 0032-3888
  • MATSUZAKA K ET AL: "A RHEO-OPTICAL APPARATUS FOR SIMULTANEOUS DETECTION OF RHEOLOGY, SMALL-ANGLE LIGHT SCATTERING, AND OPTICAL MICROSCOPY UNDER TRANSIENT, OSCILLATORY, AND CONTINUOUS SHEAR FLOWS" REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS. NEW YORK, US, Bd. 70, Nr. 5, Mai 1999 (1999-05), Seiten 2387-2397, XP000873190 ISSN: 0034-6748
   
Anmerkung: Innerhalb von neun Monaten nach der Bekanntmachung des Hinweises auf die Erteilung des europäischen Patents kann jedermann beim Europäischen Patentamt gegen das erteilte europäischen Patent Einspruch einlegen. Der Einspruch ist schriftlich einzureichen und zu begründen. Er gilt erst als eingelegt, wenn die Einspruchsgebühr entrichtet worden ist. (Art. 99(1) Europäisches Patentübereinkommen).