(19)
(11) EP 1 425 584 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
18.12.2003

(43) Veröffentlichungstag:
09.06.2004  Patentblatt  2004/24

(21) Anmeldenummer: 02797583.8

(22) Anmeldetag:  16.08.2002
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01N 33/543
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2002/009196
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/021267 (13.03.2003 Gazette  2003/11)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 31.08.2001 DE 10144250

(71) Anmelder: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DERANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.
80636 München (DE)

(72) Erfinder:
  • SCHMUCKER, Jürgen
    70563 Stuttgart (DE)
  • SCHIESTEL, Thomas
    70565 Stuttgart (DE)
  • BRUNNER, Herwig
    70569 Stuttgart (DE)
  • TOVAR, Günter
    70569 Stuttgart (DE)

(74) Vertreter: Schrell, Andreas, Dr. 
Gleiss & GrosseLeitzstrasse 45
70469 Stuttgart
70469 Stuttgart (DE)

   


(54) VERBESSERTE MASSENSPEKTROMETRISCHE ANALYSE UNTER VERWENDUNG VON NANOPARTIKELN