(19)
(11) EP 1 428 044 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
16.06.2004  Patentblatt  2004/25

(21) Anmeldenummer: 02774333.5

(22) Anmeldetag:  11.09.2002
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01S 13/36, G01S 13/88
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2002/003384
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/027709 (03.04.2003 Gazette  2003/14)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR

(30) Priorität: 21.09.2001 DE 10146586

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • SCHERTLEN, Ralph
    76149 Karlsruhe (DE)
  • VENOT, Yan
    76149 Karlsruhe (DE)
  • WIESBECK, Werner
    75210 Ellmendingen (DE)

   


(54) NAHBEREICHS-RADARSENSOR MIT PHASENDIFFERENZ-MESSUNG