(19)
(11) EP 1 435 065 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
07.07.2004  Patentblatt  2004/28

(21) Anmeldenummer: 02774450.7

(22) Anmeldetag:  09.10.2002
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G06K 9/66
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2002/003814
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/034327 (24.04.2003 Gazette  2003/17)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR

(30) Priorität: 11.10.2001 DE 10150105

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • BEUTEL, Wilhelm
    85521 Riemerling (DE)
  • HOFFMANN, Christian
    81545 München (DE)
  • BARBEHÖN, Kai
    81249 München (DE)

   


(54) AUTOMATISCHE ERMITTLUNG VON GEOMETRISCHEN MODELLEN FÜR OPTISCHE TEILERKENNUNGEN