(19)
(11)
EP 1 438 548 A1
(12)
(43)
Veröffentlichungstag:
21.07.2004
Patentblatt 2004/30
(21)
Anmeldenummer:
02779502.0
(22)
Anmeldetag:
22.10.2002
(51)
Internationale Patentklassifikation (IPC)
7
:
G01B
11/30
(86)
Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2002/011802
(87)
Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/036231
(
01.05.2003
Gazette 2003/18)
(84)
Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI
(30)
Priorität:
22.10.2001
DE 10151332
(71)
Anmelder:
Schmalfuss, Harald, Dr.
82538 Geretsried (DE)
(72)
Erfinder:
Schmalfuss, Harald, Dr.
82538 Geretsried (DE)
(74)
Vertreter:
Szynka, Dirk, Dr. et al
König-Szynka-von RenessePatentanwälteSollner Strasse 9
81479 München
81479 München (DE)
(54)
VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN MESSUNG VON OBERFLÄCHENEIGENSCHAFTEN