(19)
(11) EP 1 438 548 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
21.07.2004  Patentblatt  2004/30

(21) Anmeldenummer: 02779502.0

(22) Anmeldetag:  22.10.2002
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01B 11/30
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2002/011802
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/036231 (01.05.2003 Gazette  2003/18)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 22.10.2001 DE 10151332

(71) Anmelder: Schmalfuss, Harald, Dr.
82538 Geretsried (DE)

(72) Erfinder:
  • Schmalfuss, Harald, Dr.
    82538 Geretsried (DE)

(74) Vertreter: Szynka, Dirk, Dr. et al
König-Szynka-von RenessePatentanwälteSollner Strasse 9
81479 München
81479 München (DE)

   


(54) VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN MESSUNG VON OBERFLÄCHENEIGENSCHAFTEN