(19)
(11) EP 1 470 720 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
27.10.2004  Patentblatt  2004/44

(21) Anmeldenummer: 03701544.3

(22) Anmeldetag:  25.01.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: H04N 7/24, H04N 7/26, G02B 21/00
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2003/000768
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/067891 (14.08.2003 Gazette  2003/33)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT SE SI SK TR

(30) Priorität: 02.02.2002 DE 10204369

(71) Anmelder: Leica Microsystems Heidelberg GmbH
68165 Mannheim (DE)

(72) Erfinder:
  • SCHEK, Stefan
    69151 Neckargmünd (DE)

(74) Vertreter: Reichert, Werner F., Dr. 
Leica Microsystems AG,Konzernstelle Patente + Marken,Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar
35578 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR DATENVERARBEITUNG IN EINEM SCANMIKROSKOP MIT SCHNELLEM SCANNER UND SCANMIKROSKOP MIT SCHNELLEM SCANNER