(19)
(11) EP 1 472 520 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
03.11.2004  Patentblatt  2004/45

(21) Anmeldenummer: 03704464.1

(22) Anmeldetag:  24.01.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01N 21/31, G01N 21/71
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2003/000736
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/065020 (07.08.2003 Gazette  2003/32)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO

(30) Priorität: 28.01.2002 DE 10203439

(71) Anmelder:
  • Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V. (G O S)
    12489 Berlin (DE)
  • GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER SPEKTROCHEMIEUND ANGEWANDTEN SPEKTROSKOPIE E.V.
    44139 Dortmund (DE)

(72) Erfinder:
  • FLOREK, Stefan
    12526 Berlin (DE)
  • BECKER-ROSS, Helmut
    12557 Berlin (DE)
  • HEITMANN, Uwe
    12099 Berlin (DE)

(74) Vertreter: Weisse, Renate Dr. et al
Weisse & WolgastBökenbuschstr. 41
42555 Velbert
42555 Velbert (DE)

   


(54) VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG VON ELEMENT-KONZENTRATIONEN IN PROBEN MITTELS HOCHAUFLÖSENDER SPEKTROMETER