(19)
(11) EP 1 476 716 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
17.11.2004  Patentblatt  2004/47

(21) Anmeldenummer: 03742908.1

(22) Anmeldetag:  01.02.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01B 9/02, G01B 11/24, G01N 21/47
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2003/000288
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2003/073041 (04.09.2003 Gazette  2003/36)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO

(30) Priorität: 21.02.2002 DE 10207186

(71) Anmelder: Knüttel, Alexander
69488 Birkenau (DE)

(72) Erfinder:
  • Knüttel, Alexander
    69488 Birkenau (DE)

(74) Vertreter: Pfeifer, Hans-Peter, Dr. et al
PatentanwälteDr. H.-P. Pfeifer Dr. P. JanyBeiertheimer Allee 19
76137 Karlsruhe
76137 Karlsruhe (DE)

   


(54) NIEDERKOH RENZ-INTERFEROMETRISCHES GER T ZUR LICHTOPTIS CHEN ABTASTUNG EINES OBJEKTES