(57) Vorgeschlagen wird ein Verfahren zum Erzeugen einer Testprozedur zum Austesten der
Funktionsfähigkeit insbesondere einer Chipkarte (10) mittels einer Testentwurfsstation
auf Basis eines Computers, die eine Anzeige (44), eine Eingabeeinrichtung (43) sowie
einen Entwurfseditor (45) aufweist. Verfahrensgemäß werden die Testprozeduren (200,
300) durch Vornahme von Abwandlungen aus einer gegebenen, lauffähigen Basistestprozedur
(100) abgeleitet. Auf der Anzeige (44) werden jeweils gleichzeitig die Basistestprozedur
(100) sowie zumindest eine daraus abgeleitete weitere Testprozedur (200, 300) dargestellt.
In der abgeleiteten Testprozedur (200, 300) werden gegenüber der Basistestprozedur
(100) vorgenommene Abwandlungen, unmittelbar erkennbar wiedergegeben, etwa durch farbliche
Unterlegung. Für die besondere Herausstellung der Abwandlungen nimmt die Testentwurfsstation
selbständig eine Umformatierung vor.
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