(19)
(11) EP 1 523 682 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
20.04.2005  Patentblatt  2005/16

(21) Anmeldenummer: 03787697.6

(22) Anmeldetag:  21.07.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01N 35/00, B01J 19/00
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2003/002444
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/017074 (26.02.2004 Gazette  2004/09)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK

(30) Priorität: 22.07.2002 DE 10233212

(71) Anmelder: Siemens Aktiengesellschaft
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • STANZEL, Manfred
    91056 Erlangen (DE)
  • GUMBRECHT, Walter
    91074 Herzogenaurach (DE)

   


(54) VERFAHREN FÜR HOCHDURCHSATZANALYSEN UND VORRICHTUNG ZUR DURCHFÜHRUNG DES VERFAHRENS