(19)
(11) EP 1 563 372 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
21.04.2005

(43) Veröffentlichungstag:
17.08.2005  Patentblatt  2005/33

(21) Anmeldenummer: 03775206.0

(22) Anmeldetag:  20.10.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G06F 9/445
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2003/011611
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/038482 (06.05.2004 Gazette  2004/19)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 22.10.2002 DE 10249177

(71) Anmelder: Leica Microsystems (Schweiz) AG
9435 Heerbrugg (CH)

(72) Erfinder:
  • STUDER, Heinz
    6721 Blons 92 (AT)
  • ZIMMERMANN, Heinz
    CH-9436 Balgach (CH)
  • GRÄFENHAIN, Paul
    CH-9436 Balgach (CH)

(74) Vertreter: Kudlek, Franz Thomas 
Hössle Kudlek & PartnerPatentanwältePostfach 10 23 38
70019 Stuttgart
70019 Stuttgart (DE)

   


(54) BEDIENEINHEIT F R MIKROSKOP