(19)
(11) EP 1 567 838 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
16.09.2004

(43) Veröffentlichungstag:
31.08.2005  Patentblatt  2005/35

(21) Anmeldenummer: 03785545.9

(22) Anmeldetag:  01.12.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01J 3/46, G01N 21/45
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2003/003950
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/051205 (17.06.2004 Gazette  2004/25)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK

(30) Priorität: 02.12.2002 DE 10256188

(71) Anmelder: Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurth am Main
60325 Frankfurt am Main (DE)

(72) Erfinder:
  • MÄNTELE, Werner
    63825 Blankenbach (DE)
  • KLEIN, Oliver
    65933 Frankfurt (DE)
  • HOSAFCI, Gamze
    61440 Offenbach (DE)
  • WINTER, Ernst
    60431 Frankfurt (DE)

(74) Vertreter: Metten, Karl-Heinz 
Forrester & Boehmert, Pettenkoferstrasse 20-22
80336 München
80336 München (DE)

   


(54) SPEKTROMETER, INSBESONDERE REFLEXIONSSPEKTROMETER