(19)
(11) EP 1 585 978 A2

(12)

(88) Date of publication A3:
30.09.2004

(43) Date of publication:
19.10.2005 Bulletin 2005/42

(21) Application number: 03800394.3

(22) Date of filing: 30.12.2003
(51) International Patent Classification (IPC)7G01N 21/76
(86) International application number:
PCT/US2003/041702
(87) International publication number:
WO 2004/060446 (22.07.2004 Gazette 2004/30)
(84) Designated Contracting States:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK
Designated Extension States:
AL LT LV MK

(30) Priority: 30.12.2002 US 437184 P
30.12.2002 US 437185 P
30.12.2002 US 437186 P
30.12.2002 US 437191 P
30.12.2002 US 437192 P
30.12.2002 US 437312 P
30.12.2002 US 437333 P
30.12.2002 US 437334 P
30.12.2002 US 437335 P
30.12.2002 US 437336 P
30.12.2002 US 437337 P
30.12.2002 US 437340 P
30.12.2002 US 437341 P
30.12.2002 US 437342 P
30.12.2002 US 437343 P
30.12.2002 US 437345 P
30.12.2002 US 437346 P
30.12.2002 US 437347 P
30.12.2002 US 437386 P
30.12.2002 US 437454 P
30.12.2002 US 437455 P
30.12.2002 US 437510 P
30.12.2002 US 437514 P
31.12.2002 US 437323 P

(71) Applicant: Pelikan Technologies Inc.
Palo Alto, CA 94303 (US)

(72) Inventors:
  • FREEMAN, Dominique, M.
    La Honda, CA 94020 (US)
  • BOECKER, Dirk
    Palo Alto, CA 94306 (US)
  • JONES, Robert
    Cambridge, CB4 0DW (GB)
  • CULLEN, David
    Bedfordshire MK45 4DT (GB)
  • MCLEOD, Malcolm
    Cambridge, CB2 1PZ (GB)
  • CARLSEN, William
    Sunnyvale, CA 94089 (US)
  • OWEN, Michael, J.
    Midland, MI 48640 (US)
  • DRYER, Christopher
    Palo Alto, CA 94303 (US)

(74) Representative: Pratt, Richard Wilson 
D Young & Co, 120 Holborn
London EC1N 2DY
London EC1N 2DY (GB)

   


(54) METHOD AND APPARATUS USING OPTICAL TECHNIQUES TO MEASURE ANALYTE LEVELS