(19)
(11) EP 1 606 665 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
21.12.2005  Patentblatt  2005/51

(21) Anmeldenummer: 03770874.0

(22) Anmeldetag:  23.09.2003
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G02B 21/00
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2003/003163
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/051341 (17.06.2004 Gazette  2004/25)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK

(30) Priorität: 05.12.2002 DE 10257120

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • KNEBEL, Werner
    76709 Kronau (DE)
  • BIRK, Holger
    74909 Meckesheim (DE)
  • STORZ, Rafael
    69115 Heidelberg (DE)

(74) Vertreter: Naumann, Ulrich 
Patentanwälte, Ullrich & Naumann, Luisenstrasse 14
69115 Heidelberg
69115 Heidelberg (DE)

   


(54) RASTERMIKROSKOP MIT KONFOKALEM SPALTSCANNER ZUM ABBILDEN EINES OBJEKTES