(19)
(11)
EP 1 609 194 A2
(12)
(88)
Veröffentlichungstag A3:
10.02.2005
(43)
Veröffentlichungstag:
28.12.2005
Patentblatt 2005/52
(21)
Anmeldenummer:
04713079.4
(22)
Anmeldetag:
20.02.2004
(51)
Internationale Patentklassifikation (IPC)
7
:
H01L
51/20
(86)
Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2004/001703
(87)
Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/086514
(
07.10.2004
Gazette 2004/41)
(84)
Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK
(30)
Priorität:
28.03.2003
DE 10314163
(71)
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)
(72)
Erfinder:
BRABEC, Christoph
91054 Erlangen (DE)
WITTMANN, Georg
91074 Herzogenaurach (DE)
(54)
ELEKTROOPTISCHER DÜNNSCHICHT-MIKROWELLEN-DETEKTOR