(19)
(11) EP 1 609 194 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
10.02.2005

(43) Veröffentlichungstag:
28.12.2005  Patentblatt  2005/52

(21) Anmeldenummer: 04713079.4

(22) Anmeldetag:  20.02.2004
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7H01L 51/20
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2004/001703
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/086514 (07.10.2004 Gazette  2004/41)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK

(30) Priorität: 28.03.2003 DE 10314163

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • BRABEC, Christoph
    91054 Erlangen (DE)
  • WITTMANN, Georg
    91074 Herzogenaurach (DE)

   


(54) ELEKTROOPTISCHER DÜNNSCHICHT-MIKROWELLEN-DETEKTOR