(19)
(11) EP 1 615 469 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
05.09.2007  Patentblatt  2007/36

(43) Veröffentlichungstag A2:
11.01.2006  Patentblatt  2006/02

(21) Anmeldenummer: 05014417.9

(22) Anmeldetag:  02.07.2005
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
H05B 3/74(2006.01)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL BA HR MK YU

(30) Priorität: 07.07.2004 DE 102004033454

(71) Anmelder: E.G.O. ELEKTRO-GERÄTEBAU GmbH
D-75038 Oberderdingen (DE)

(72) Erfinder:
  • Seidler, Christian
    75015 Bretten (DE)
  • Riffel, Michael, Dr.
    75038 Oberderdingen (DE)
  • Ose, Lutz, Dr.
    75447 Sternenfels (DE)

(74) Vertreter: Patentanwälte Ruff, Wilhelm, Beier, Dauster & Partner 
Kronenstrasse 30
70174 Stuttgart
70174 Stuttgart (DE)

   


(54) Kochgerät mit Temperaturerfassung und Verfahren zur Temperaturerfassung an einem Kochgerät


(57) Bei einem Ausführungsbeispiel weist ein Kochfeld (11) eine Glaskeramikplatte (13) auf und eine Strahlungsheizung (18) darunter. Zwei Quotienten-Pyrometer (20a, 20b) sind im wesentlichen auf dieselbe Stelle an der Unterseite eines aufgestellten Kochgeschirrs (15) gerichtet. Sie sind jeweils auf einen Wellenlängenbereich eingestellt. Beim ersten Wellenlängenbereich ist die Transmission der Glaskeramikplatte (13) nahe null und beim zweiten nahe eins. So kann die Strahlungsintensität der Glaskeramikplatte (13) aufgrund eigener Erwärmung ermittelt werden und aus der Temperaturberechnung der Unterseite eines aufgestellten Kochgeschirrs (15) herausgerechnet werden.







Recherchenbericht