(19)
(11) EP 1 618 352 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
28.04.2005

(43) Veröffentlichungstag:
25.01.2006  Patentblatt  2006/04

(21) Anmeldenummer: 04711559.7

(22) Anmeldetag:  17.02.2004
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01D 5/20(1968.09)
G01B 7/02(1968.09)
 G01P 3/489(1980.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2004/000296
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/097333 (11.11.2004 Gazette  2004/46)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK

(30) Priorität: 30.04.2003 DE 10319818
17.07.2003 DE 10332761

(71) Anmelder: Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
94496 Ortenburg (DE)

(72) Erfinder:
  • MEDNIKOV, Stanislav
    94496 Ortenburg (DE)
  • NETCHAEWSKIJ, Mark
    443010 Samara (RU)
  • MEDNIKOV, Felix
    94496 Ortenburg (DE)
  • GRÖMMER, Werner
    94496 Ortenburg (DE)
  • SELLEN, Martin
    94496 Ortenburg (DE)

(74) Vertreter: Naumann, Ulrich et al
Patentanwälte, Ullrich & Naumann, Luisenstrasse 14
69115 Heidelberg
69115 Heidelberg (DE)

   


(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG VON BEWEGUNGSPARAMETERN EINER LEITENDEN, VORZUGSWEISE PROFILIERTEN OBERFL CHE