(19)
(11) EP 1 623 210 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
08.02.2006  Patentblatt  2006/06

(21) Anmeldenummer: 04738520.8

(22) Anmeldetag:  14.05.2004
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/41(1980.01)
G01N 21/43(1980.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2004/001050
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2004/104565 (02.12.2004 Gazette  2004/49)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 14.05.2003 DE 20307675 U

(71) Anmelder: Schmidt & Haensch GmbH & Co.
13403 Berlin (DE)

(72) Erfinder:
  • YILMAZ, Sükrü
    14059 Berlin (DE)
  • KUCHEJDA, Mathis
    14195 Berlin (DE)

(74) Vertreter: Meissner, Peter E. 
Meissner & Meissner, Patentanwaltsbüro, Postfach 33 01 30
14171 Berlin
14171 Berlin (DE)

   


(54) REFRAKTOMETER