(19)
(11) EP 1 644 895 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
10.02.2005

(43) Veröffentlichungstag:
12.04.2006  Patentblatt  2006/15

(21) Anmeldenummer: 04735896.5

(22) Anmeldetag:  03.06.2004
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G06T 7/00(1995.01)
 G01N 21/88(1980.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2004/051008
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2005/006002 (20.01.2005 Gazette  2005/03)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
DE FR GB

(30) Priorität: 12.07.2003 DE 10331646
07.05.2004 DE 102004022717

(71) Anmelder: Leica Microsystems Semiconductor GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • SÖNKSEN, Dirk
    35641 Schöffengrund (DE)
  • FRIEDRICH, Ralf
    35394 Giessen (DE)
  • DRAEGER, Andreas
    35580 Wetzlar (DE)
  • SCHUPP, Detlef
    57562 Herdorf/Dermbach (DE)
  • VAN LUU, Thin
    35576 Wetzlar (DE)
  • LANGER, Wolfgang
    35578 Wetzlar (DE)

(74) Vertreter: Reichert, Werner Franz 
Reichert Patent & Trademarks Franz-Groedel-Strasse 1
61231 Bad Nauheim
61231 Bad Nauheim (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUM EINLERNEN EINER WISSENSBASIERTEN DATENBASIS FÜR DIE AUTOMATISCHE FEHLERKLASSIFIKATION