VERFAHREN UND SYSTEM ZUR GER TEUNABH NGIGEN BESTIMMUNG VON KOORDINATEN EINES MITTELS EINES MIKROSKOPS ABGEBILDETEN PUNKTES - Patent 1658521

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EP 1 658 521 A1

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(43)	Veröffentlichungstag:
	24.05.2006 Patentblatt 2006/21

(21)	Anmeldenummer: 04763791.3

(22)	Anmeldetag: 04.08.2004

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Internationale Patentklassifikation (IPC):

G02B 21/00^(1968.09)

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/EP2004/008742

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 2005/017597 (24.02.2005 Gazette 2005/08)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	DE FR GB

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Priorität:

11.08.2003 DE 10336803

(71)	Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
	35578 Wetzlar (DE)

(72)	Erfinder:
	STOCK, Bernd 35578 Wetzlar (DE)

(74)	Vertreter: Grunert, Marcus
	Hössle Kudlek & Partner Patentanwälte Postfach 10 23 38 70019 Stuttgart 70019 Stuttgart (DE)

(54)	VERFAHREN UND SYSTEM ZUR GER TEUNABH NGIGEN BESTIMMUNG VON KOORDINATEN EINES MITTELS EINES MIKROSKOPS ABGEBILDETEN PUNKTES