(19)
(11) EP 1 728 770 B8

(12) KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFT
Hinweis: Bibliographie entspricht dem neuesten Stand

(15) Korrekturinformation:
Korrigierte Fassung Nr.  1 (W1 B1)

(48) Corrigendum ausgegeben am:
15.10.2008  Patentblatt  2008/42

(45) Hinweis auf die Patenterteilung:
23.07.2008  Patentblatt  2008/30

(21) Anmeldenummer: 06008720.2

(22) Anmeldetag:  27.04.2006
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
C03C 23/00(2006.01)
B41M 5/26(2006.01)
C03C 17/00(2006.01)

(54)

Verfahren zur Markierung von Objektoberflächen

Process for marking the surface of articles

Procédé pour le marquage des surfaces d'objets


(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 03.06.2005 DE 102005026038

(43) Veröffentlichungstag der Anmeldung:
06.12.2006  Patentblatt  2006/49

(73) Patentinhaber: boraident GmbH
06118 Halle/Saale (DE)

(72) Erfinder:
  • Rainer, Thomas, Dr.
    38855 Wernigerode (DE)
  • Berg, Klaus-Jürgen, Dr.
    06130 Halle (DE)
  • Redmann, Dr. Frank
    06114 Halle (DE)

(74) Vertreter: COHAUSZ DAWIDOWICZ HANNIG & SOZIEN 
Patent- und Rechtsanwaltskanzlei Postfach 14 01 61
40071 Düsseldorf
40071 Düsseldorf (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
EP-A2- 1 110 660
US-B1- 6 177 151
US-A1- 2003 071 020
   
  • TANAHASHI ET AL: "Effects of heat treatment on Ag particle growth and optical properties in Ag/SiO2 glass composite thin films" JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH, Bd. 10, Nr. 2, Februar 1995 (1995-02), Seiten 362-365, XP002417063
  • HAYASHI M ET AL: "ELECTROLUMINESCENCE FROM CDSE MICROCRYSTALS-DOPED INDIUM TIN OXIDE THIN FILMS" JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE, SPRINGER / BUSINESS MEDIA, DORDRECHT, NL, Bd. 33, Nr. 19, 1. Oktober 1998 (1998-10-01), Seiten 4829-4833, XP000791551 ISSN: 0022-2461
  • NIKOLAEVA M ET AL: "Ion beam assisted formation of Ag nanoparticles in SiO2 and their optical properties" NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH, SECTION - B: BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, Bd. 193, Nr. 1-4, Juni 2002 (2002-06), Seiten 867-870, XP004367424 ISSN: 0168-583X
  • NASU H ET AL: "Influence of matrix on third order optical nonlinearity for semiconductor nanocrystals embedded in glass thin films prepared by Rf-sputtering" JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, NORTH-HOLLAND PHYSICS PUBLISHING. AMSTERDAM, NL, Bd. 351, Nr. 10-11, 15. April 2005 (2005-04-15), Seiten 893-899, XP004844756 ISSN: 0022-3093
   
Anmerkung: Innerhalb von neun Monaten nach der Bekanntmachung des Hinweises auf die Erteilung des europäischen Patents kann jedermann beim Europäischen Patentamt gegen das erteilte europäischen Patent Einspruch einlegen. Der Einspruch ist schriftlich einzureichen und zu begründen. Er gilt erst als eingelegt, wenn die Einspruchsgebühr entrichtet worden ist. (Art. 99(1) Europäisches Patentübereinkommen).