(19)
(11) EP 1 759 234 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
07.03.2007  Patentblatt  2007/10

(21) Anmeldenummer: 05756928.7

(22) Anmeldetag:  10.06.2005
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/34(2006.01)
G01N 35/00(2006.01)
 G06K 7/00(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2005/052702
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2005/121865 (22.12.2005 Gazette  2005/51)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 12.06.2004 DE 102004028286
29.06.2004 DE 102004031570

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • SIECKMANN, Frank
    44879 Bochum (DE)

(74) Vertreter: Bradl, Joachim 
Patentanwalt Schelmengrubweg 25
69198 Schriesheim
69198 Schriesheim (DE)

   


(54) OBJEKTTRÄGERVORRICHTUNG ZUR AUFNAHME EINES MIT EINEM MIKROSKOP ZU UNTERSUCHENDEN ODER MIT EINEM LABORANALYSESYSTEM ZU ANALYSIERENDEN OBJEKTS