(19)
(11) EP 1 769 246 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
04.04.2007  Patentblatt  2007/14

(21) Anmeldenummer: 04740541.0

(22) Anmeldetag:  01.07.2004
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 33/543(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2004/007176
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2005/019821 (03.03.2005 Gazette  2005/09)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 23.07.2003 CH 130503

(71) Anmelder:
  • Bayer Technology Services GmbH
    51368 Leverkusen (DE)
  • Laser-Laboratorium Göttingen
    37077 Göttingen (DE)

(72) Erfinder:
  • HAIML, Markus
    CH-8049 Zürich (CH)
  • BALET, Laurent, P.
    CH-1971 Grimisuat (CH)
  • DUVENECK, Gert, L.
    79189 Bad Krozingen (DE)
  • MAROWSKY, Gerd
    37077 Göttingen (DE)

(74) Vertreter: Lütjens, Henning 
Bayer Business Services GmbH Law and Patents Patents and Licensing
51368 Leverkusen
51368 Leverkusen (DE)

   


(54) ANALYTISCHES SYSTEM UND VERFAHREN ZUR ANALYSE NICHTLINEARER OPTISCHER SIGNALE