(19)
(11) EP 1 835 523 B8

(12) KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFT
Hinweis: Bibliographie entspricht dem neuesten Stand

(15) Korrekturinformation:
Korrigierte Fassung Nr.  1 (W1 B1)

(48) Corrigendum ausgegeben am:
28.09.2016  Patentblatt  2016/39

(45) Hinweis auf die Patenterteilung:
29.06.2016  Patentblatt  2016/26

(21) Anmeldenummer: 07102803.9

(22) Anmeldetag:  21.02.2007
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 23/04(2006.01)
H01J 37/26(2006.01)
 H01J 37/04(2006.01)

(54)

Phasenkontrast-Elektronenmikroskop

Phase-contrast electron microscope

Microscope à électrons à contraste de phase

(84) Benannte Vertragsstaaten:
CZ DE GB NL

(30) Priorität: 14.03.2006 DE 102006011615

(43) Veröffentlichungstag der Anmeldung:
19.09.2007  Patentblatt  2007/38

(73) Patentinhaber: Carl Zeiss Microscopy GmbH
07745 Jena (DE)

(72) Erfinder:
  • Benner, Gerd
    73434, Aalen (DE)
  • Matijevic, Marko
    72622, Nürtingen (DE)

(74) Vertreter: Gnatzig, Klaus et al
Carl Zeiss AG Patentabteilung
73446 Oberkochen
73446 Oberkochen (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
EP-A- 1 329 936
US-A- 2 802 110
 WO-A-2005/022582
US-A1- 2002 148 962
   
       
    Anmerkung: Innerhalb von neun Monaten nach der Bekanntmachung des Hinweises auf die Erteilung des europäischen Patents kann jedermann beim Europäischen Patentamt gegen das erteilte europäischen Patent Einspruch einlegen. Der Einspruch ist schriftlich einzureichen und zu begründen. Er gilt erst als eingelegt, wenn die Einspruchsgebühr entrichtet worden ist. (Art. 99(1) Europäisches Patentübereinkommen).