(19)
(11) EP 1 839 331 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
24.08.2006

(43) Veröffentlichungstag:
03.10.2007  Patentblatt  2007/40

(21) Anmeldenummer: 06722452.7

(22) Anmeldetag:  09.01.2006
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
H01L 21/66(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2006/000017
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2006/072238 (13.07.2006 Gazette  2006/28)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 08.01.2005 DE 102005001104

(71) Anmelder: X-FAB Semiconductor Foundries AG
99097 Erfurt (DE)

(72) Erfinder:
  • KNECHTEL, Roy
    98716 Geraberg (DE)

(74) Vertreter: Leonhard, Frank Reimund et al
Leonhard - Olgemöller - Fricke, Postfach 10 09 62
80083 München
80083 München (DE)

   


(54) ELEKTRISCHE BESTIMMUNG DER VERBINDUNGSQUALITÄT EINER GEBONDETEN SCHEIBENVERBINDUNG