(19)
(11) EP 1 875 197 A2

(12)

(88) Date de publication A3:
04.01.2007

(43) Date de publication:
09.01.2008  Bulletin  2008/02

(21) Numéro de dépôt: 06743693.1

(22) Date de dépôt:  14.04.2006
(51) Int. Cl.: 
G01N 15/02(2006.01)
(86) Numéro de dépôt:
PCT/FR2006/000819
(87) Numéro de publication internationale:
WO 2006/111641 (26.10.2006 Gazette  2006/43)
(84) Etats contractants désignés:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorité: 21.04.2005 FR 0504005

(71) Demandeur: HORIBA ABX SAS
F-34000 Montpellier (FR)

(72) Inventeurs:
  • NERIN, Philippe
    F-30114 Nages et Solorgues (FR)
  • LEFEVRE, Didier
    F-34980 Saint Clement de Rivière (FR)

(74) Mandataire: Bezault, Jean 
Cabinet Netter 36, avenue Hoche
75008 Paris
75008 Paris (FR)

   


(54) DISPOSITIF ET PROCEDE D'ANALYSE MULTIPARAMETRIQUE D'ELEMENTS MICROSCOPIQUES