(19)
(11)
EP 1 875 197 A2
(12)
(88)
Date de publication A3:
04.01.2007
(43)
Date de publication:
09.01.2008
Bulletin 2008/02
(21)
Numéro de dépôt:
06743693.1
(22)
Date de dépôt:
14.04.2006
(51)
Int. Cl.:
G01N
15/02
(2006.01)
(86)
Numéro de dépôt:
PCT/FR2006/000819
(87)
Numéro de publication internationale:
WO 2006/111641
(
26.10.2006
Gazette 2006/43)
(84)
Etats contractants désignés:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR
(30)
Priorité:
21.04.2005
FR 0504005
(71)
Demandeur:
HORIBA ABX SAS
F-34000 Montpellier (FR)
(72)
Inventeurs:
NERIN, Philippe
F-30114 Nages et Solorgues (FR)
LEFEVRE, Didier
F-34980 Saint Clement de Rivière (FR)
(74)
Mandataire:
Bezault, Jean
Cabinet Netter 36, avenue Hoche
75008 Paris
75008 Paris (FR)
(54)
DISPOSITIF ET PROCEDE D'ANALYSE MULTIPARAMETRIQUE D'ELEMENTS MICROSCOPIQUES