[0001] Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung
102005040558.4. Die Erfindung betrifft Verfahren zum Herstellen mindestens eines Lumineszenzdiodenchips,
der mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial versehen ist, das mindestens einen Leuchtstoff
aufweist. Weiterhin betrifft die Erfindung einen derartigen Lumineszenzdiodenchips
selbst oder solche Lumineszenzdiodenchips.
[0002] Bei optoelektronischen Bauelementen, die elektromagnetische Strahlung emittieren,
ist es bekannt, Lumineszenzdiodenchips mittels einer Vergussmasse einzukapseln, in
die mindestens ein Leuchtstoff gemischt ist. Das Einkapseln erfolgt zum Beispiel durch
Vergießen einer Gehäusekavität, in der ein Lumineszenzdiodenchip montiert ist. Alternativ
erfolgt das Einkapseln durch Umspritzen eines auf einem Leiterrahmen montierten Lumineszenzdiodenchips,
beispielsweise mittels Spritzpressen.
[0003] Der Leuchtstoff ist durch eine von dem Lumineszenzdiodenchip emittierte elektromagnetische
Primärstrahlung anregbar und emittiert eine Sekundärstrahlung, wobei die Primärstrahlung
und die Sekundärstrahlung unterschiedliche Wellenlängenbereiche aufweisen. Ein gewünschter
resultierender Farbort des Bauelements kann beispielsweise durch ein Einstellen eines
Mischungsverhältnisses der Primärstrahlung und Sekundärstrahlung eingestellt werden.
[0004] Bei einer Verwendung der oben erwähnten Vergussmassen kann es zu Farbortschwankungen
aufgrund einer inhomogenen Verteilung des Leuchtstoffes in der Vergussmasse kommen,
die zum Beispiel auf einer Sedimentationsbildung von Leuchtstoffpartikeln beruhen
kann. Zudem gibt es Fertigungstoleranzen bezüglich einer Dosierbarkeit der Vergussmasse,
der Höhen von Lumineszenzdiodenchips und/oder einer Positionierbarkeit der Lumineszenzdiodenchips
in der Kavität eines Spritzwerkzeugs. Dies kann zu signifikanten Schwankungen der
Menge der Vergussmasse, die dem Lumineszenzdiodenchip in einer Abstrahlrichtung nachgeordnet
ist, und somit auch zu Schwankungen des Farbortes des Bauelementes führen. Weiterhin
wirken sich hohe Anschaffungskosten für Zubehör zum präzisen Dosieren der Vergussmasse
und ein Verschleiß dieses Zubehörs aufgrund der Abrasivität des Lumineszenzkonversionsmaterials
beziehungsweise des Leuchtstoffs in nicht zu vernachlässigender Weise auf die Herstellungskosten
des Bauelements aus.
[0005] In der
US 2003/080341 A1 ist ein Verfahren offenbart, bei dem eine Mehrzahl von LED-Chips auf einem Submount
mechanisch und elektrisch montiert sind, wobei eine vorgefertigte Maske auf dem Submount
derart angeordnet wird, dass sich die LED-Chips in Löchern der Maske befinden, die
nachfolgend mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial gefüllt werden und wobei die
Maske nachfolgend entfernt wird. Der LED-Chip kann in einer Kavität eines Gehäuses
angeordnet sein, wobei Seitenflächen der Kavität zu einer Montagefläche des Gehäuses
schräg ausgebildet sein können.
[0006] Die
EP 1 198 016 A2 beschreibt ein Verfahren zum Herstellen von Bauelementen mit LED-Chips, bei dem Flip-Chips
auf einem Submount montiert werden, eine Maske mit Öffnungen derart auf dem Submount
angeordnet wird, dass sich die Flip-Chips innerhalb der Öffnungen befinden, die Öffnungen
mit Lumineszenzkonversionsmaterial gefüllt werden und die Maske nachfolgend entfernt
wird.
[0008] In der
WO 01/65613 A1 ist ein Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen offenbart, bei dem ein
Lumineszenzkonversionselement direkt auf den Halbleiterkörper aufgebracht wird. Dies
hat den Vorteil, dass Leuchtstoffe homogen und in einer wohl definierten Menge auf
dem Halbleiterkörper aufgebracht werden können. Dadurch lässt sich ein homogener Farbeindruck
des lichtabstrahlenden Halbleiterchips erreichen.
[0009] Bei dem Verfahren wird der Halbleiterkörper auf einem Träger montiert, mit Kontakten
versehen und mit einem Lumineszenzkonversionselement beschichtet. Das Beschichten
erfolgt mittels einer geeigneten Suspension, die ein Lösungsmittel aufweist, das nach
dem Auftragen entweicht. Alternativ wird der Halbleiterkörper mit einem Haftvermittler
beschichtet, auf dem nachfolgend der Leuchtstoff aufgebracht wird.
[0010] Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, alternative Verfahren zum Herstellen
von mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial versehenen Lumineszenzdiodenchips bereitzustellen,
das es insbesondere ermöglicht, das Lumineszenzkonversionsmaterial in einer wohl definierten
Menge und mit einer wohl definierten Struktur aufzubringen. Zudem soll zumindest ein
mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial versehener Lumineszenzdiodenchip angegeben
werden, bei dem das Lumineszenzkonversionsmaterial in einer besonders vorteilhaften
Form vorliegt und/oder der auf technisch einfache Weise herstellbar ist.
[0011] Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 oder Anspruch 9 sowie durch
einen Lumineszenzdiodenchip gemäß Anspruch 12 oder Anspruch 14 gelöst. Vorteilhafte
Ausführungsformen und bevorzugte Weiterbildungen der Verfahren und des Lumineszenzdiodenchips
sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.
[0012] Es wird ein Verfahren angegeben, bei dem ein Grundkörper bereitgestellt wird, der
eine Schichtenfolge für den Lumineszenzdiodenchip aufweist, die geeignet ist, eine
elektromagnetische Strahlung zu emittieren. Bevorzugt ist der Grundkörper für eine
Mehrzahl von Lumineszenzdiodenchips vorgesehen, so dass eine Mehrzahl von Lumineszenzdiodenchips
im Wesentlichen gleichzeitig hergestellt werden können. In diesem Fall umfasst das
Verfahren insbesondere ein Zerteilen des Grundkörpers zum Vereinzeln der Lumineszenzdiodenchips
aus ihrem gemeinsamen Verbund. Besonders bevorzugt ist der Grundkörper ein Wafer oder
ein Träger, auf dem die Schichtenfolge oder mehrere solcher Schichtenfolgen aufgebracht
sind.
[0013] Bei dem Verfahren wird auf zumindest eine Hauptfläche des Grundkörpers eine Deckschicht
aufgebracht. Zudem umfasst das Verfahren einen Verfahrensschritt, bei dem mindestens
eine Kavität in die Deckschicht eingebracht wird.
[0014] Gemäß einer Ausführungsform des Verfahrens wird Lumineszenzkonversionsmaterial derart
auf den Grundkörper aufgebracht, dass die Kavität der Deckschicht vollständig oder
teilweise gefüllt wird. Dies bietet vorteilhafter Weise die Möglichkeit, die Form
des Lumineszenzkonversionsmaterials mittels der Form der Kavität einzustellen, was
auf eine präzise Weise erfolgen kann.
[0015] Die Deckschicht weist gemäß einer erfindungsgemäßen Ausführungsform ein photostrukturierbares
Material auf. Das Einbringen der Kavität umfasst zweckmäßigerweise Photostrukturieren,
das heißt ein Strukturieren durch gezieltes Belichten des photostrukturierbaren Materials
und ein nachfolgendes selektives Entfernen des belichteten oder des unbelichteten
Materials, je nach Beschaffenheit des photostrukturierbaren Materials. Photostrukturieren
lässt sich mit Vorteil präzise durchführen und für die Herstellung sehr kleiner Strukturen
verwenden. Grundsätzlich sind Auflösungen im Mikrometer- und sogar Sub-Mikrometerbereich
möglich.
[0016] Nach dem Aufbringen des Lumineszenzkonversionsmaterials wird die Deckschicht mit
Vorteil vollständig entfernt. Gemäß einer erfindungsgemäßen Ausführungsform wird jedoch
nach dem Aufbringen des Lumineszenzkonversionsmaterials nur ein Teil der Deckschicht
selektiv entfernt. Der übrige Teil der Deckschicht bleibt auf dem Grundkörper bestehen
und kann verschiedene Funktionen erfüllen, wie nachfolgend angegeben wird. Gemäß einer
weiteren alternativen Ausführungsform ist zweckmäßigerweise vorgesehen, die Deckschicht
nach dem Aufbringen des Lumineszenzkonversionsmaterials überhaupt nicht zu entfernen.
[0017] Das Entfernen der Deckschicht oder von Teilen der Deckschicht erfolgt bevorzugt im
wesentlichen mechanisch. Es kann zweckmäßigerweise zusätzlich oder alternativ chemisch
erfolgen.
[0018] In den Fällen, dass die Deckschicht nicht oder nur teilweise entfernt wird, ist in
einer Weiterbildung des Verfahrens vorgesehen, dass die Deckschicht mindestens einen
Leuchtstoff aufweist. Damit kann die Deckschicht selbst mit Vorteil als ein Lumineszenzkonversionselement
fungieren.
[0019] Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform besteht die Deckschicht aus reflektierendem
Material oder weist ein reflektierendes Material auf. Dadurch ist es insbesondere
möglich, die Deckschicht als einen Reflektor zu verwenden, beispielsweise um eine
von dem Lumineszenzdiodenchip und/oder dem Lumineszenzkonversionsmaterial emittierte
elektromagnetische Strahlung in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten
Abstrahl-Raumwinkel umzulenken.
[0020] Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist der Grundkörper auf der
Hauptfläche mindestens eine elektrische Kontaktfläche zum elektrischen Anschließen
des mindestens einen Lumineszenzdiodenchips auf. Die Kavität wird lateral versetzt
zu der Kontaktfläche in der Deckschicht eingebracht und die Deckschicht wird nach
dem Aufbringen des Lumineszenzkonversionsmaterials von der Kontaktfläche entfernt.
Somit dient die Deckschicht nicht nur dazu, das Lumineszenzkonversionsmaterial in
einer wohl definierten Form aufzubringen, sondern auch zum wenigstens teilweisen Freihalten
der elektrischen Kontaktfläche von Lumineszenzkonversionsmaterial. Zusätzlich oder
alternativ zu elektrischen Kontaktflächen können selbstverständlich auch weitere Flächen
entsprechend von Lumineszenzkonversionsmaterial freigehalten werden. Dies gilt insbesondere
für Bereiche, in denen der Grundkörper zum Vereinzeln einer Mehrzahl von Lumineszenzdiodenchips
aus ihrem gemeinsamen Verbund zerteilt wird. Für diese Bereiche ist es vorteilhaft,
wenn sie frei von Lumineszenzkonversionsmaterial sind, so dass der Grundkörper in
diesen Bereichen beispielsweise frei mit einem Sägeblatt zugänglich ist.
[0021] Das Lumineszenzkonversionsmaterial weist bevorzugt mindestens ein Material aus der
Gruppe bestehend aus Silikonen, Siloxanen, Spin-on Oxiden und photostrukturierbaren
Materialen auf. Besonders bevorzugt ist das Material stabil gegenüber der Einwirkung
von elektromagnetischer Strahlung, insbesondere von elektromagnetischer Strahlung
aus dem ultravioletten Bereich.
[0022] In einer zweckmäßigen Ausführungsform des Verfahrens wird das Lumineszenzkonversionsmaterial
in Form eines flüssigen, härtbaren Stoffes aufgebracht und nachfolgend gehärtet. Das
Lumineszenzkonversionsmaterial wird insbesondere in einer zähflüssigen Form aufgebracht.
In flüssiger Form passt sich das Material der Form der Kavität an. Durch das Härten
behält das Lumineszenzkonversionsmaterial diese Form dauerhaft selbst wenn die Deckschicht
nachfolgend teilweise oder vollständig entfernt werden sollte.
[0023] In einer besonders bevorzugten Ausführungsform wird überschüssiges Lumineszenzkonversionsmaterial
vor dem Härten zumindest teilweise durch Abstreifen entfernt. Das Lumineszenzkonversionsmaterial
wird insbesondere von der Deckschicht abgestriffen, wobei auch nur teilweise gefüllte
Kavitäten weitergehend durch Lumineszenzkonversionsmaterial gefüllt werden können.
Durch das Abstreifen des Lumineszenzkonversionsmaterials wird zudem die Deckschicht
besser zugänglich gemacht, um sie nachfolgend beispielsweise zumindest teilweise zu
entfernen.
[0024] Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Verfahrens wird eine photostrukturierbare
Deckschicht auf die Hauptfläche des Grundkörpers aufgebracht, wobei diese Deckschicht
den mindestens einen Leuchtstoff aufweist. Somit dient bereits die Deckschicht mit
Vorteil als ein Lumineszenzkonversionsmaterial. Dieses kann auf präzise Weise unmittelbar
mittels Photostrukturieren strukturiert werden. Die Verwendung eines weiteren Lumineszenzkonversionsmaterials
kann mit Vorteil entfallen.
[0025] Bevorzugt wird mindestens eine Kavität in die Deckschicht eingebracht, was insbesondere
Photostrukturieren umfasst. Die Kavität kann in dieser Ausführungsform des Verfahrens
insbesondere eingebracht werden, um Flächen des Grundkörpers, auf denen kein Lumineszenzkonversionsmaterial
und/oder sonstiges Material erwünscht ist, freizulegen. Insbesondere können durch
Kavitäten elektrische Kontaktflächen und/oder Bereiche, in denen der Grundkörper durchtrennt
werden soll, freigelegt werden.
[0026] Die Kavität wird mit Vorteil derart eingebracht, dass ihre Innenwände nicht parallel
zueinander oder nicht vollständig senkrecht zu einer Haupterstreckungsebene der Hauptfläche
verlaufen. Vielmehr wird die Kavität bevorzugt derart eingebracht, dass ihr Querschnitt
sich mit zunehmender Tiefe verändert. Gemäß einer Ausführungsform wird der Querschnitt
mit zunehmender Tiefe größer, alternativ wird er mit zunehmender Tiefe kleiner.
[0027] Zusätzlich oder alternativ wird die Kavität mit besonderem Vorteil derart eingebracht,
dass ihre Innenwände zumindest zum Teil bezüglich einer Haupterstreckungsebene der
Hauptfläche schräg oder gekrümmt verlaufen. Dadurch lässt sich die Form des Lumineszenzkonversionsmaterials
und somit auch eine zu erzeugende Abstrahlcharakteristik oder ein zu erzeugender Farbort
des Lumineszenzdiodenchips mittelbar einstellen.
[0028] Besonders bevorzugt ist die Deckschicht photostrukturierbar und wird der Verlauf
des Querschnitts oder der Innenwände der Kavität zumindest teilweise durch ungleichmäßig
starkes Belichten der Deckschicht beim Photostrukturieren eingestellt. Dadurch, dass
unterschiedliche Bereiche der Deckschicht mit unterschiedlicher Strahlungsleistung
belichtet werden, kann erreicht werden, dass die Deckschicht in den weniger stark
belichteten Bereichen nicht in seiner vollen Tiefe und mit variierender Tiefe beleuchtet
wird. Die Grenzfläche von beleuchteten und nicht beleuchteten Bereichen der Deckschicht
verläuft dadurch an den entsprechenden Stellen nicht parallel zur Ausbreitungsrichtung
des zum Beleuchtung einfallenden Lichtes, sondern sie kann insbesondere gekrümmt oder
schräg dazu verlaufen.
[0029] Es wird ein Lumineszenzdiodenchip mit einem Grundkörper angegeben. Der Grundkörper
ist geeignet, elektromagnetische Strahlung zu emittieren. Er ist auf zumindest einer
Hauptfläche mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial versehen, das mindestens einen
Leuchtstoff aufweist.
[0030] Das Lumineszenzkonversionsmaterial liegt gemäß einer bevorzugten Ausführungsform
als eine Schicht vor, deren Seitenflanken zumindest zum Teil gezielt derart geformt
sind, dass sie bezüglich einer Haupterstreckungsebene der Hauptfläche schräg oder
gekrümmt verlaufen. Das Lumineszenzkonversionsmaterial liegt besonders bevorzugt in
Form einer im Wesentlichen ebenen Schicht vor, was sich mittels des angegebenen Verfahrens
besonders gut und kontrolliert erzielen lässt. Die Schicht ist mit Vorteil im Wesentlichen
eben ausgebildet.
[0031] Zusätzlich oder insbesondere auch alternativ ist mit Vorteil vorgesehen, dass das
Lumineszenzkonversionsmaterial ein photostrukturierbares Material aufweist. Das Lumineszenzkonversionsmaterial
ist in diesem Fall bevorzugt unmittelbar photostrukturiert.
[0032] Bevorzugt weist die Schicht Lumineszenzkonversionsmaterial eine Dicke zwischen einschließlich
5 µm und einschließlich 250 µm auf. Besonders bevorzugt beträgt die Dicke der Schicht
zwischen einschließlich 10 µm und einschließlich 50 µm. Die Untergrenze der Schichtdicke
kann jedoch auch mit Vorteil geringer als 10 µm oder sogar geringer als 5 µm sein.
[0033] Gemäß einer besonders zweckmäßigen Ausführungsform weist das Lumineszenzkonversionsmaterial
mindestens eine Material aus der Gruppe bestehend aus Silikonen, Siloxanen, Spin-on
Oxiden und photostrukturierbaren Materialien auf.
[0034] Mit Vorteil grenzt das Lumineszenzkonversionsmaterial seitlich an ein reflektierendes
Material an. Neben beispielsweise der Form des Lumineszenzkonversionsmaterials erlaubt
ein solches reflektierendes Material eine weitergehende vorteilhafte Beeinflussung
der Abstrahlcharakteristik des Lumineszenzdiodenchips. Besonders bevorzugt weist das
reflektierende Material ein photostrukturierbares Material auf. Alternativ oder zusätzlich
kann das reflektierende Material auch weitere Materialien aufweisen, die in der Deckschicht
enthalten sein können.
[0035] Der Lumineszenzdiodenchip ist besonders bevorzugt ein Dünnfilm-Lumineszenzdiodenchip.
Ein Dünnfilm-Lumineszenzdiodenchip zeichnet sich insbesondere durch folgende charakteristische
Merkmale aus:
- An einer zu einem Trägerelement hin gewandten ersten Hauptfläche einer strahlungserzeugenden
Epitaxieschichtenfolge ist eine reflektierende Schicht aufgebracht oder ausgebildet,
die zumindest einen Teil der in der Epitaxieschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen
Strahlung in diese zurückreflektiert;
- die Epitaxieschichtenfolge weist eine Dicke im Bereich von 20 µm oder weniger, insbesondere
im Bereich von 10 µm auf; und
- die Epitaxieschichtenfolge enthält mindestens eine Halbleiterschicht mit zumindest
einer Fläche, die eine Durchmischungsstruktur aufweist, die im Idealfall zu einer
annähernd ergodischen Verteilung des Lichtes in der Epitaxieschichtenfolge führt,
das heißt sie weist ein möglichst ergodisch stochastisches Streuverhalten auf.
[0036] Die Epitaxieschichtenfolge wird im Rahmen dieser Anmeldung auch Dünnfilm-Schicht
genannt. Sie ist bevorzugt vollständig oder teilweise frei von einem Aufwachssubstrat.
Ein Grundprinzip eines Dünnfilm-Lumineszenzdiodenchips ist beispielsweise in
I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18. Oktober 1993, 2174-2176 beschrieben, deren Offenbarungsgehalt insofern hiermit durch Rückbezug aufgenommen
wird.
[0037] Die Verwendung eines Dünnfilm-Lumineszenzdiodenchips führt zu einer besonders hohen
Effektivität, da die von der Dünnfilm-Schicht emittierte und die elektromagnetische
Strahlung in der Regel an den Leuchtstoffpartikeln gestreut wird und zu einem signifikanten
Teil insbesondere auch in die Halbleiterschichtenfolge zurückgestreut wird. Bei einem
Dünnfilm-Lumineszenzdiodenchip wird diese zurückgestreute Strahlung jedoch, verglichen
mit anderen Systemen, mit geringeren Verlusten mittels der reflektierenden Schicht
zurückreflektiert. Wegen der reflektierenden Schicht und der geringen Dicke der Epitaxieschichtenfolge
sind somit Absorptionsverluste relativ gering.
[0038] Eine weitere erfindungsgemäße Ausführungsform des Lumineszenzdiodenchips sieht mit
Vorteil vor, dass das Lumineszenzkonversionsmaterial mindestens einen organischen
Leuchtstoff und/oder mindestens einen Leuchtstoff aufweist, der zumindest teilweise
in Form von Nanopartikeln vorliegt. Die Nanopartikel weisen bevorzugt einen Mediandurchmesser
d
50 von kleiner als oder gleich 100 nm auf, wobei der Mediandurchmesser anhand einer
Volumen- oder Massenverteilungssumme (Q
3) ermittelt wird. Besonders bevorzugt weisen die Nanopartikel einen d
50-Wert, gemessen in Q
3, von kleiner als oder gleich 30 nm und größer als oder gleich 1 nm auf.
[0039] Verglichen mit herkömmlichen Leuchtstoffpartikeln, die in lichtemittierenden optischen
Bauelementen verwendet werden, kann mit Leuchtstoffpartikeln in Form von Nanopartikeln
ein verbessertes homogenes Leuchtbild realisiert werden. Organische Leuchtstoffe und
Leuchtstoffe in Form von Nanopartikeln lassen sich besonders gut und dauerhaft in
flüssigen, insbesondere in zähflüssigen Matrixmaterialien dispergieren. Dadurch ist
es zum Beispiel möglich, eine Konzentrierung von Leuchtstoff in äußeren Bereichen
des Grundkörpers bei Einwirkung von Zentrifugalkraft deutlich zu reduzieren. Dies
ermöglicht es, das Lumineszenzkonversionsmaterial mittels eines Spin-Coating Verfahrens
aufzubringen.
[0040] Weitere Vorteile, bevorzugte Ausführungsformen und Weiterbildungen der Verfahren
und des Lumineszenzdiodenchips ergeben sich aus den im Folgenden in Verbindung mit
den Figuren 1 bis 20 erläuterten Ausführungsbeispielen. Es zeigen:
Figuren 1 bis 11 schematische Schnittansichten eines Grundkörpers bei verschiedenen
Verfahrensstadien eines Ausführungsbeispiels des Verfahrens,
Figuren 12 und 13 schematische Schnittansichten eines Grundkörpers bei verschiedenen
Verfahrensstadien eines zweiten Ausführungsbeispiels des Verfahrens,
Figuren 14 und 15 schematische Schnittansichten eines Grundkörpers bei verschiedenen
Verfahrensstadien eines dritten Ausführungsbeispiels des Verfahrens,
Figur 16 eine schematische Schnittansicht eines Ausführungsbeispiels des Lumineszenzdiodenchips,
und
Figuren 17 bis 20 mikroskopische Aufnahmen verschiedener Verfahrensstadien bei einem
real durchgeführten Ausführungsbeispiel des Verfahrens.
[0041] In den Ausführungsbeispielen und Figuren sind gleiche oder gleich wirkende Bestandteile
jeweils mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Die dargestellten Bestandteile sowie
die Größenverhältnisse der Bestandteile untereinander sind nicht notwendigerweise
als maßstabsgerecht anzusehen. Vielmehr können einige Details der Figuren zum besseren
Verständnis übertrieben groß dargestellt sein.
[0042] In Figur 1 ist ein Grundkörper 11 dargestellt. Dieser weist einen Träger 12, eine
auf dem Träger aufgebrachte Dünnfilm-Schicht 13 sowie ein Bondpad 5 auf, das auf der
dem Träger 12 gegenüberliegenden Seite der Dünnfilm-Schicht 13 aufgebracht ist. Die
freie Außenfläche des Bondpads 5 bildet eine elektrische Kontaktfläche 51 zum elektrischen
Anschließen einer Struktur für einen Lumineszenzdiodenchip des Grundkörpers.
[0043] Die Dünnfilmschicht 13 basiert beispielsweise auf Nitrid-Verbindungshalbleitermaterialien
und ist geeignet, eine elektromagnetische Strahlung aus dem blauen und/oder ultravioletten
Spektrum zu emittieren. Nitrid-Verbindungshalbleitermaterialien sind Verbindungshalbleitermaterialien,
die Stickstoff enthalten, wie Materialien aus dem System In
xAl
yGa
1-x-yN mit 0 ≤ x ≤ 1, 0 ≤ y ≤ 1 und x + y ≤ 1. Die Dünnfilmschicht weist z.B. mindestens
eine Halbleiterschicht aus einem Nitrid-Verbindungshalbleitermaterial auf.
[0044] In der Dünnfilmschicht 13 kann beispielsweise ein herkömmlicher pn-Übergang, eine
Doppelheterostruktur, eine Einfach-Quantentopfstruktur (SQW-Struktur) oder eine Mehrfach-Quantentopfstruktur
(MQW-Strukur) enthalten sein. Solche Strukturen sind dem Fachmann bekannt und werden
von daher an dieser Stelle nicht näher erläutert. Beispiele für solche MQW-Strukturen
sind in den Druckschriften
US 5,831,277 und
US 5,684,309 beschrieben, deren Offenbarungsgehalt insofern hiermit durch Rückbezug aufgenommen
wird.
[0045] Zwischen der Dünnfilm-Schicht 13 und dem Träger 12 ist ein Reflektor angeordnet,
der für elektromagnetische Strahlung, die in der Dünnfilm-Schicht erzeugbar ist, reflektierend
ist. Der Reflektor ist nicht dargestellt. Es kann sich hierbei beispielsweise um einen
metallischen oder dielektrischen Spiegel handeln. Bevorzugt umfasst der Reflektor
eine dielektrische Schicht und eine auf dieser dielektrischen Schicht aufgebrachte
metallische Schicht, wobei die dielektrische Schicht an die Dünnfilm-Schicht 13 angrenzt.
[0046] Auf eine Hauptfläche 14 des Grundkörpers 11 wird eine Deckschicht 3 aufgebracht,
siehe Figur 2. Die Deckschicht 3 besteht beispielsweise aus einem photostrukturierbaren
Material, was ein photostrukturierbarer Lack oder ein photostrukturierbares Harz sein
kann. Es wird z.B. mittels eines Spin-Coating Verfahrens in einer ebenen Schicht aufgebracht.
Über der Dünnfilm-Schicht 13 weist die Deckschicht 3 beispielsweise eine Dicke von
etwa 40 µm auf, welche über dem Bondpad 5 entsprechend etwas geringer und über dem
Träger 12 etwas größer ist.
[0047] Bei dem photostrukturierbaren Material müssen zum Photostrukturieren die zu entfernenden
Teile belichtet werden. Selbstverständlich ist es auch möglich alternativ ein photostrukturierbares
Material zu verwenden, bei dem die nicht zu entfernenden Teile beim Photostrukturieren
zu belichten sind. Es können grundsätzlich auch unterschiedliche photostrukturierbare
Materialien miteinander kombiniert werden.
[0048] Nachfolgend wird die Deckschicht 3 in Bereichen über der Dünnfilm-Schicht 14, außer
in dem Bereich oberhalb des Bondpads, mittels einer Maske 31 und elektromagnetischer
Strahlung einer geeigneten Wellenlänge belichtet, siehe Figur 3. Die elektromagnetische
Strahlung ist in Figur 3 durch Pfeile symbolisch dargestellt.
[0049] In einem weiteren Verfahrensschritt wird die belichtete Deckschicht 3 mittels eines
für das photostrukturierbare Material geeigneten Mediums entwickelt. In Figur 4 sind
die belichteten und entwickelten Teile 32 der Deckschicht 3 schematisch dargestellt.
Nachfolgend werden die belichteten Teile 32 der Deckschicht 3 entfernt, so dass mindestens
eine Kavität 4 ausgebildet wird, siehe Figur 5.
[0050] Wie in Figur 6 dargestellt wird in einem weiteren Verfahrensschritt Lumineszenzkonversionsmaterial
auf den Grundkörper 11 aufgebracht, so dass die Kavität 4 beispielsweise vollständig
von diesem gefüllt ist. In einem weiteren Verfahrensschritt wird überschüssiges Lumineszenzkonversionsmaterial
2 mittels Abstreifen entfernt. Dies kann beispielsweise mittels einer Klinge 9 erfolgen,
die über die Deckschicht 3 gezogen wird, so dass überschüssiges Lumineszenzkonversionsmaterial
2 von der Deckschicht 3 abgezogen wird, was in Figur 7 schematisch dargestellt ist.
Zum Abstreifen wird beispielsweise eine scharfe Metallklinge verwendet.
[0051] Das Lumineszenzkonversionsmaterial weist ein flüssiges, insbesondere ein zähflüssige
Matrixmaterial auf, das gehärtet werden kann. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
wird ein additionsvernetzendes Silikon verwendet, das bevorzugt thermisch härtend
ist. Als Matrixmaterial eignet sich alternativ z.B. auch ein Spin-On Oxid oder ein
Siloxan.
[0052] Nach dem Abstreifen des überschüssigen Lumineszenzkonversionsmaterials 2 wird der
Grundkörper 11 mit den aufgebrachten Materialien ausgeheizt. Dies erfolgt zum Beispiel
mittels einer heißen Platte oder warmer Umluft bei etwa 100 °C für eine Dauer von
beispielsweise 2 Stunden. Bei einem derartigen Ausheizen wird das Matrixmaterial des
Lumineszenzkonversionsmaterials 2 angehärtet.
[0053] Wie in Figur 8 dargestellt, wird das Lumineszenzkonversionsmaterial 2 bei dem Ausführungsbeispiel
durch das Abstreifen nicht vollständig von der Deckschicht 3 entfernt, sondern es
verbleibt ein dünner Film von Lumineszenzkonversionsmaterial 2 auf dem Deckschichtmaterial
3. In einem nachfolgenden Verfahrensschritt, der in Figur 9 schematisch dargestellt
ist, wird das verbliebene Material der Deckschicht 3 sowie der dünne Film von Lumineszenzkonversionsmaterial
2 abgelöst. Dies erfolgt beispielsweise mittels eines so genannten Liftoff Prozesses,
bei dem der dünne Film an Lumineszenzkonversionsmaterial 2 durch Entfernen des Materials
der Deckschicht 3 abgehoben wird.
[0054] Zum Entfernen dieser Materialien wird die über der Deckschicht befindliche dünne
Schicht Lumineszenzkonversionsmaterial zunächst aufgebrochen, was beispielsweise mechanisch
mittels eines Hochdruckfächerstrahles 33 erfolgt, siehe Figur 9. Dieser Hochdruckfächerstrahl
33 kann zudem auch dazu benutzt werden, das restliche Material der Deckschicht 3 zu
entfernen. Als Medium für den Hochdruckfächerstrahl 33 kann beispielsweise Wasser
verwendet werden. Zusätzlich oder alternativ wird als Medium für den Hochdruckfächerstrahl
33 beispielsweise N-Methyl-2-Pyrrolidon (NMP) verwendet.
[0055] Nach dem Entfernen der Deckschicht 3 und des auf der Deckschicht befindlichen dünnen
Films an Lumineszenzkonversionsmaterial verbleibt eine strukturierte Schicht von Lumineszenzkonversionsmaterial
2 auf dem Grundkörper 11, was in Figur 10 dargestellt ist. Durch das Entfernen der
Deckschicht 3 werden insbesondere auch elektrische Kontaktflächen 51 des Bondpads
5 sowie beispielsweise Durchtrenn-Bereiche 15 freigelegt. In den Durchtrenn-Bereichen
15 wird der Grundkörper nachfolgend beispielsweise mittels Sägen durchtrennt, um eine
Mehrzahl von Lumineszenzdiodenchips 1 herzustellen. Obwohl in Figur 10 nur eine einzige
Struktur für einen Lumineszenzdiodenchip mit einem einzigen Bondpad 5 und einer einzigen
Dünnfilm-Schicht 13 dargestellt ist, kann der Grundkörper 11 beispielsweise eine Mehrzahl
derartiger Strukturen aufweisen, die sich in dem Grundkörper in einem gemeinsamen
Verbund miteinander befinden. Zudem können für einen Lumineszenzdiodenchip auch zwei
Bondpads vorgesehen sein. Die Lumineszenzdiodenchips werden beispielsweise mittels
Sägen oder Laserstrahlen aus dem gemeinsamen Verbund vereinzelt. Bei dem Verbund handelt
es sich z.B. um einen Wafer.
[0056] Ein fertiger Lumineszenzdiodenchip 1, der mit Lumineszenzkonversionsmaterial 2 versehen
ist, ist in Figur 11 dargestellt. Er ist geeignet, um beispielsweise in ein Lumineszenzdiodenbauelement
oder ein Modul eingebaut zu werden, was seine elektrische und mechanische Montage
umfasst. Zur Fertigstellung des Lumineszenzdiodenchips kann es erforderlich sein,
das Lumineszenzkonversionsmaterial durch ein weiteres Heizen auszuhärten. Dies erfolgt
beispielsweise wiederum mittels einer heißen Platte oder warmer Umluft beispielsweise
bei 150 °C für etwa 1 Stunde.
[0057] In den Figuren 17 bis 20 sind mikroskopische Aufnahmen verschiedener Verfahrensstadien
eines real durchgeführten Verfahrens dargestellt. Das Verfahren ähnelt dem vorhergehend
anhand der Figuren 1 bis 11 erläuterten Verfahren.
[0058] Der Grundkörper 11 ist beispielsweise ein Wafer, auf dem eine Mehrzahl von Dünnfilm-Schichten
13 für eine Mehrzahl von Lumineszenzdiodenchips aufgebracht sind. Alternativ kann
auch eine einzige Dünnfilm-Schicht auf dem Wafer aufgebracht sein, die für eine Mehrzahl
von Lumineszenzdiodenchips vorgesehen und noch nicht strukturiert ist. Als Alternative
zu einem Wafer eignen sich auch andere Träger wie beispielsweise Trägerfolien oder
Metallträger. In den Figuren 17 bis 20 ist jeweils ein Ausschnitt des Trägers dargestellt.
[0059] Figur 17 entspricht etwa dem in Figur 5 dargestellten Verfahrensstadium. In diesem
ist eine Deckschicht 3 auf dem Grundkörper 11 aufgebracht und mit einer Mehrzahl von
Kavitäten 4 versehen. Die runden Teile der Deckschicht 3, die in Figur 17 erkennbar
sind, sind über entsprechend rund geformten Bondpads des Grundkörpers angeordnet.
Dahingegen sind die rahmenartig ausgebildeten Teile der Deckschicht 3 über Bereichen
des Grundkörpers angeordnet, innerhalb derer der Grundkörper durchtrennt werden soll.
[0060] Die in Figur 18 dargestellte mikroskopische Aufnahme entspricht in etwa dem in Figur
6 dargestellten Verfahrensstadium. Auf den Grundkörper 11 ist ein Lumineszenzkonversionsmaterial
2 in Form einer zähflüssigen, härtbaren Masse aufgebracht worden, welche die Kavitäten
4 füllt.
[0061] Die in Figur 19 dargestellte Aufnahme entspricht dem vorhergehend anhand von Figur
8 erläuterten Verfahrensstadium. Überschüssiges Lumineszenzkonversionsmaterial 2 ist
mittels einer Klinge 9 abgestriffen und der Grundkörper 11 ist ausgeheizt. In der
Aufnahme lässt sich deutlich erkennen, in welchen Bereichen Teile der Deckschicht
und in welchen nur Lumineszenzkonversionsmaterial 2 auf den Grundkörper angeordnet
sind. Allerdings sind auch die Teile der Deckschicht mit einem dünnen Film von Lumineszenzkonversionsmaterial
2 bedeckt.
[0062] Dieser dünne Film und die verbliebenen Teile der Deckschicht 3 werden nachfolgend
entfernt. Figur 20 zeigt das vorhergehend anhand Figur 10 erläuterte Verfahrensstadium,
in dem eine wohl definiert strukturierte Lumineszenzkonversionsschicht 2 auf dem Grundkörper
verbleibt. Elektrische Kontaktflächen 51 der Bondpads sowie Bereiche 15, die beispielsweise
für Sägespuren vorgesehen sind, sind in diesem Verfahrensstadium freigelegt. Der Grundkörper
11 kann in dieser Form zu einer Vielzahl von Lumineszenzdiodenchips 1 vereinzelt werden.
[0063] Bei allen beschriebenen Ausführungsbeispielen ist es gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform
möglich, den Träger 12 nach dem Aufbringen des Lumineszenzkonversionsmaterials 2 abzulösen.
Besonders bevorzugt erfolgt dies nach dem Aushärten des Lumineszenzkonversionsmaterials
2. Gemäß diesen Ausführungsbeispiels stabilisiert das Lumineszenzkonversionsmaterial
2 die fagile Dünnfilm-Schicht 13, so dass mit Vorteil auf den Träger verzichtet werden
kann. Dies ermöglicht es, besonders flache Lumineszenzdiodenchips herzustellen, die
mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial 2 versehen sind.
[0064] Der Lumineszenzdiodenchip ist gemäß diesen Ausführungsbeispiels frei von einem Träger.
Bevorzugt weist er eine epitaktische Halbleiterschichtenfolge auf, die geeignet ist,
eine elektromagnetische Strahlung zu emittieren. Besonders bevorzugt ist die epitaktische
Halbleiterschichtenfolge frei von einem Aufwachssubstrat. Der für das Verfahren verwendete
Träger 12 kann beispielsweise eine flexible Trägerfolie sein, an der die Dünnfilm-Schichten
13 haften.
[0065] In Figur 12 ist ein Verfahrensstadium eines weiteren Ausführungsbeispiels für ein
Verfahren zum Herstellen eines Lumineszenzdiodenchips dargestellt. In diesem Verfahrensstadium
ist auf einem Grundkörper 11 bereits eine Deckschicht 3 aufgebracht und mit Kavitäten
4 versehen. Zudem sind die Kavitäten 4 in dem dargestellten Verfahrensstadium mit
einem Lumineszenzkonversionsmaterial 2 gefüllt.
[0066] Im Unterschied zu den vorhergehend erläuterten Ausführungsbeispielen werden die Kavitäten
4 bei dem in den Figuren 12 und 13 dargestellten Ausführungsbeispiel derart eingebracht,
dass ihr Querschnitt mit zunehmender Tiefe größer wird. Auf der dem Bondpad 5 zugewandten
Seite verlaufen die Innenwände der Kavität bezüglich einer Haupterstreckungsebene
der Hauptfläche 14 schräg vom Bondpad 5 weg.
[0067] Entsprechend liegt das Lumineszenzkonversionsmaterial 2 nach Entfernen der Deckschicht
3 in Form einer Schicht vor, deren zu dem Bondpad 5 gewandten Seitenflanken 6 bezüglich
einer Haupterstreckungsebene der Hauptfläche 14 zumindest teilweise schräg verlaufen.
Dieser zum Teil schräger Verlauf der Seitenflanken 6 der Schicht Lumineszenzkonversionsmaterial
2 hat bei dem in Figur 13 dargestellten Ausführungsbeispiel insbesondere den Vorteil,
dass das Bondpad 5 und somit die elektrische Kontaktfläche 51 verbessert von außen
zugänglich ist, um z.B. mit einem Bonddraht elektrisch leitend kontaktiert zu werden.
[0068] Verglichen mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial 2, dessen Seitenflanken 6 ausschließlich
senkrecht zu einer Haupterstreckungsebene 14 des Grundkörpers 11 verlaufen, können
derart schräge Seitenflanken des Lumineszenzkonversionsmaterials 2 zusätzlich eine
verbesserte Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung aus dem Lumineszenzkonversionsmaterial
2 bewirken.
[0069] Zusätzlich oder alternativ können die Seitenflanken 6 auch zumindest teilweise gekrümmt
verlaufen. Weiterhin ist es auch möglich, dass auch die von dem Bondpad 5 abgewandten
Seitenflanken 6 des Lumineszenzkonversionsmaterials 2 schräg oder gekrümmt bezüglich
der Haupterstreckungsebene verlaufen, wie das in den Figuren 14 und 15 dargestellt
ist. Eine derartige Ausformung der Schicht Lumineszenzkonversionsmaterial 2 ist für
eine Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung besonders vorteilhaft.
[0070] Zur Herstellung der Kavitäten 4 wird bei den in den Figuren 12 und 14 dargestellten
Ausführungsbeispielen beispielsweise ein photostrukturierbares Material für die Deckschicht
3 verwendet, dessen Photostrukturierung ein Bestrahlen der nicht zu entfernenden Teile
der Deckschicht 3 mit elektromagnetischer Strahlung umfasst. Dadurch können die schräg
verlaufenden Innenwände der Kavitäten 4 beispielsweise mittels einer Graustufenmaske
erzeugt werden.
[0071] Mittels der Graustufenmaske kann bewerkstelligt werden, dass die Deckschicht in den
Bereichen, in denen schräge Innenwände auszubilden sind, nicht vollständig und bis
zu einer sich gleichmäßig ändernden Tiefe bestrahlt wird. Ebenso können auch Krümmungen
erzeugt werden, bei denen es erforderlich ist, dass sich die durchstrahlte Tiefe der
Deckschicht nicht gleichmäßig, sondern entsprechend der Krümmung ungleichmäßig im
Verlauf entlang der Haupterstreckungsebene des Grundkörpers 11 ändert.
[0072] Auf analoge Weise lassen sich auch Kavitäten erzeugen, deren Querschnitt sich mit
zunehmender Tiefe verkleinert. Im Unterschied zu den anhand Figuren 12 und 14 erläuterten
Ausführungsbeispielen wird hierfür jedoch zweckmäßiger Weise ein photostrukturierbares
Material verwendet, bei dem die zu entfernenden Teile zum Photostrukturieren belichtet
werden müssen.
[0073] Als Alternative oder Ergänzung zu den vorhergehend beschriebenen Ausführungsbeispielen
für das Verfahren ist es möglich, ein photostrukturierbares Material mit mindestens
einem Leuchtstoff zu versetzen und als ein Lumineszenzkonversionsmaterial auszubilden.
Dies bietet mit besonderem Vorteil die Möglichkeit, das Lumineszenzkonversionsmaterial
unmittelbar durch die Verwendung von Photostrukturierung präzise zu formen.
[0074] Als Materixmaterial wird hierfür beispielsweise ein photostrukturierbares Glas verwendet.
Dieses basiert zum Beispiel auf den Grundgläsern des Dreistoffsystems Li
2O-Al
2O
3-SiO
2 und ist mit mindestens einem der Stoffe Ag
2O, CeO
2, Sb
2O
3 und SnO dotiert. Zum Photostrukturieren wird das photostrukturierbare Glas beispielsweise
mit UV-Licht mit einer Wellenlänge zwischen einschließlich 290 nm und einschließlich
330 nm belichtet. Gläser, die mit elektromagnetischer Strahlung aus diesem Wellenlängenbereich
photostrukturierbar sind, sind kommerziell erhältlich.
[0075] Alternativ kann als photostrukturierbares Matrixmaterial ein additionsvernetzendes
Silikon verwendet werden, das mittels UV-Strahlung oder sichtbarem Licht aushärtbar
ist. Auch derartige Silikone sind kommerziell erhältlich. Beim Photostrukturieren
werden die Teile, die bestehen bleiben sollen, durch Bestrahlung mit elektromagnetischer
Strahlung eines geeigneten Wellenlängenbereiches ausgehärtet. Nachfolgend wird nicht
ausgehärteter Silikon mittels eines Lösungsmittels, das aromatische Gruppen enthält,
selektiv entfernt.
[0076] Alternativ zu dem additionsvernetzenden Silikon können auch Spin-On Gläser verwendet
werden, die Polysiloxanketten als Basiseinheiten enthalten und mit UV-Strahlung oder
sichtbarem Licht vernetzt werden können.
[0077] Bei der Verwendung eines derart unmittelbar strukturierbaren Lumineszenzkonversionsmaterials
werden in die Deckschicht zweckmäßiger Weise dort Kavitäten eingebracht, wo kein Lumineszenzkonversionsmaterial
erwünscht ist. Es ist jedoch auch möglich, verschiedene Arten von Lumineszenzkonversionsmaterial
miteinander zu kombinieren, so dass sowohl die Deckschicht als auch ein weiteres Lumineszenzkonversionsmaterial,
das in Kavitäten der Deckschicht eingebracht werden kann, mindestens einen Leuchtstoff
aufweist.
[0078] In dem photostrukturierbaren Matrixmaterial ist bevorzugt mindestens ein Leuchtstoff
enthalten, der in Form von Nanopartikeln und/oder in Form eines organischen Leuchtstoffes
vorliegt. Derartige Leuchtstoffe sind jedoch auch in Verbindung mit anderen Matrixmaterialien
verwendbar.
[0079] Beispielsweise wird ein Leuchtstoff verwendet, dessen Partikel einen Mediandurchmesser
d
50 von kleiner als oder gleich 30 nm, beispielsweise von 25 nm aufweist, wobei der Mediandurchmesser
anhand einer Volumen- oder Massenverteilungssumme (Q
3) ermittelt wird.
[0080] Grundsätzlich eignen sich alle für die Anwendung bei LEDs bekannten Leuchtstoffe
für die Verwendung im Lumineszenzkonversionsmaterial. Beispiele für derartige als
Konverter geeignete Leuchtstoffe und Leuchtstoffmischungen sind:
- Chlorosilikate, wie beispielsweise in DE 10036940 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart,
- Orthosilikate, Sulfide, Thiometalle und Vanadate wie beispielsweise in WO 2000/33390 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart,
- Aluminate, Oxide, Halophosphate, wie beispielsweise in US 6,616,862 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart,
- Nitride, Sione und Sialone wie beispielsweise in DE 10147040 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart, und
- Granate der Seltenen Erden wie YAG:Ce und der Erdalkalielemente wie beispielsweise
in US 2004-062699 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart.
[0081] Bei den in Figur 16 dargestellten Ausführungsbeispiel eines Lumineszenzdiodenchips
1 ist die Deckschicht 3 nicht vollständig entfernt, sondern Teile der Deckschicht
3 grenzen außen seitlich an das Lumineszenzkonversionsmaterial 2 an. Zumindest dieser
Teil der Deckschicht 3 besteht beispielsweise aus einem Material, das für die von
dem Lumineszenzdiodenchip emittierte elektromagnetische Strahlung reflektierend ist.
Somit bilden die verbleibenden Teile der Deckschicht 3 einen Reflektor.
[0082] Alternativ lassen sich strahlungsdurchlässige Materialien verwenden, die mit reflektierenden
Füllstoffen versetzt sind. Als Materialien für den Füllstoff eignen sich z.B. Titandioxid
oder Bariumsulfat, die in Form eines Pulvers vorliegen. Ein geeignetes strahlungsdurchlässiges
Material ist z.B. ein additionsvernetzenden Silikon oder Spin-On Glas. Damit diese
trotz des Füllstoffes mit elektromagnetischer Strahlung aushärtbar sind, müssen sie
zusätzlich mit Photoinitiatoren versetzt sein, die bei geeigneter Bestrahlung eine
Aushärtung aktivieren.
[0083] Da die elektromagnetische Strahlung in dem Lumineszenzkonversionsmaterial 2 in der
Regel teilweise stark gestreut wird, hat das Lumineszenzkonversionsmaterial 2 ein
diffuses Abstrahlverhalten. Mittels des reflektierenden Materials 8 kann ein Teil
der elektromagnetischen Strahlung in eine Vorzugsrichtung abgelenkt werden.
[0084] Hierzu sind die zum Lumineszenzkonversionsmaterial 2 gewandten Wände des reflektierenden
Materials beispielsweise schräg bezüglich einer Haupterstreckungsebene der Hauptfläche
ausgebildet. Das angrenzende Lumineszenzkonversionsmaterial 2 weist an dieser Seitenflanke
entsprechend die gleiche Schräge auf. Diese Struktur wird z.B. mittels Kavitäten hergestellt,
deren Querschnitt mit zunehmender Tiefe kleiner wird.
[0085] Die Erfindung ist nicht durch ihre Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele auf
diese beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination
von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen
beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit
in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.
1. Verfahren zum Herstellen mindestens eines Lumineszenzdiodenchips, der mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial
versehen ist, das mindestens einen Leuchtstoff aufweist, mit den Schritten:
- Bereitstellen eines Grundkörpers, der eine Schichtenfolge für den Lumineszenzdiodenchip
aufweist, die geeignet ist, eine elektromagnetische Strahlung zu emittieren;
- Aufbringen einer Deckschicht auf zumindest eine Hauptfläche des Grundkörpers;
- Einbringen von mindestens einer Kavität in die Deckschicht; und
- Aufbringen von Lumineszenzkonversionsmaterial auf den Grundkörper, derart, dass
die Kavität vollständig oder teilweise gefüllt wird, wobei nur ein Teil der Deckschicht
nach dem Aufbringen des Lumineszenzkonversionsmaterials selektiv entfernt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
wobei die Deckschicht ein photostrukturierbares Material und/oder ein reflektierendes
Material aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
wobei das Entfernen mechanisch und/oder chemisch erfolgt.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
wobei neben dem Lumineszenzkonversionsmaterial zumindest auch die Deckschicht mindestens
einen Leuchtstoff aufweist.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
wobei der Grundkörper auf der Hauptfläche mindestens eine elektrische Kontaktfläche
zum elektrischen Anschließen des mindestens einen Lumineszenzdiodenchips aufweist
und die Kavität lateral versetzt zu der Kontaktfläche der Deckschicht eingebracht
wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
wobei das Lumineszenzkonversionsmaterial mindestens ein Material aus der Gruppe bestehend
aus Silikonen, Siloxanen, Spin-On Oxiden und photostrukturierbaren Materialien aufweist.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
wobei das Lumineszenzkonversionsmaterial in Form eines flüssigen, härtbaren Stoffes
aufgebracht und nachfolgend gehärtet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
wobei überschüssiges Lumineszenzkonversionsmaterial vor dem Härten zumindest teilweise
durch Abstreifen entfernt wird.
9. Verfahren zum Herstellen mindestens eines Lumineszenzdiodenchips, der mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial
versehen ist, das mindestens einen Leuchtstoff aufweist, mit den Schritten:
- Bereitstellen eines Grundkörpers, der eine Schichtenfolge für den Lumineszenzdiodenchip
aufweist die geeignet ist, eine elektromagnetische Strahlung zu emittieren;
- Aufbringen einer photostrukturierbaren Deckschicht, die den Leuchtstoff aufweist,
auf zumindest eine Hauptfläche des Grundkörpers; und
- Einbringen von mindestens einer Kavität in die Deckschicht, wobei die Deckschicht
photostrukturierbar ist und ein Verlauf des Querschnitts oder der Innenwände der Kavität
zumindest teilweise durch ungleichmäßig starkes Belichten derart eingestellt wird,
dass
- ihr Querschnitt mit zunehmender Tiefe größer oder kleiner wird, oder
- ihre Innenwände zumindest zum Teil bezüglich einer Haupterstreckungsebene der Hauptfläche
schräg oder gekrümmt verlaufen.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Grundkörper für eine
Mehrzahl von Lumineszenzdiodenchips vorgesehen ist.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Grundkörper ein Wafer
oder ein Träger, auf dem die Schichtenfolge oder mehrere derartiger Schichtenfolgen
aufgebracht sind, ist.
12. Lumineszenzdiodenchip mit einem Grundkörper, der geeignet ist, elektromagnetische
Strahlung zu emittieren und der auf zumindest einer Hauptfläche mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial
versehen ist, das mindestens einen Leuchtstoff aufweist, und das Lumineszenzkonversionsmaterial
als eine Schicht vorliegt, deren Seitenflanken zumindest zum Teil gezielt derart geformt
sind, dass sie bezüglich einer Haupterstreckungsebene der Hauptfläche schräg oder
gekrümmt verlaufen,
dadurch gekennzeichnet, dass
- das Lumineszenzkonversionsmaterial seitlich an ein reflektierendes Material angrenzt,
welches ein photostrukturierbares Material aufweist; oder
- das Lumineszenzkonversionsmaterial mindestens einen Leuchtstoff aufweist, der zumindest
teilweise in Form von Nanopartikeln vorliegt.
13. Lumineszenzdiodenchip nach Anspruch 12,
das Lumineszenzkonversionsmaterial mindestens ein Material aus der Gruppe bestehend
aus Silikonen, Siloxanen, Spin-On Oxiden und photostrukturierbaren Materialien aufweist.
14. Lumineszenzdiodenchip mit einem Grundkörper, der geeignet ist, elektromagnetische
Strahlung zu emittieren und der auf zumindest einer Hauptfläche mit einem Lumineszenzkonversionsmaterial
versehen ist, das mindestens einen Leuchtstoff aufweist,
dadurch gekennzeichnet, dass
- das Lumineszenzkonversionsmaterial ein photostrukturierbares Material aufweist,
und
- das Lumineszenzkonversionsmaterial mindestens einen Leuchtstoff aufweist, der zumindest
teilweise in Form von Nanopartikeln vorliegt.
15. Lumineszenzdiodenchip nach Anspruch 14,
bei dem das Lumineszenzkonversionsmaterial photostrukturiert ist.
16. Lumineszenzdiodenchip nach einem der Ansprüche 12 bis 15,
wobei die Schicht eine Dicke zwischen einschließlich 5 µm und einschließlich 250 µm
aufweist.
17. Lumineszenzdiodenchip nach einem der Ansprüche 12 bis 15,
wobei die Schicht eine Dicke zwischen einschließlich 10 µm und einschließlich 50 µm
aufweist.
18. Lumineszenzdiodenchip nach einem der Ansprüche 12 bis 17,
wobei der Lumineszenzdiodenchip ein Dünnfilm-Lumineszenzdiodenchip ist.
19. Lumineszenzdiodenchip nach einem der Ansprüche 12 bis 18,
wobei das Lumineszenzkonversionsmaterial mindestens einen organischen Leuchtstoff
aufweist.
1. A method for producing at least one luminescence diode chip provided with a luminescence
conversion material comprising at least one phosphor, comprising the steps of:
- preparing a base body comprising a layer sequence that is intended for the luminescence
diode chip and is suitable for emitting an electromagnetic radiation;
- applying a cap layer to at least one main surface of the base body;
- introducing at least one cavity into the cap layer; and
- applying luminescence conversion material to the base body in such a way that the
cavity is completely or partially filled, wherein only a portion of the cap layer
is selectively removed after the application of the luminescence conversion material.
2. The method according to claim 1,
wherein the cap layer comprises a photo-structurable material and/or a reflective
material.
3. The method according to claim 1 or 2,
wherein the removal is effected mechanically and/or chemically.
4. The method according to claim 1 or 2,
wherein in addition to the luminescence conversion material at least the cap layer
also comprises at least one phosphor.
5. The method according to one of the preceding claims,
wherein the base body comprises on the main surface at least one electrical contact
area for electrically connecting the at least one luminescence diode chip, and the
cavity is introduced in such a way as to be offset laterally from the contact area
of the cap layer.
6. The method according to one of the preceding claims,
wherein the luminescence conversion material comprises at least one material from
the group consisting of silicones, siloxanes, spin-on oxides and photo-structurable
materials.
7. The method according to one of the preceding claims,
wherein the luminescence conversion material is applied in the form of a liquid, curable
substance and is subsequently cured.
8. The method according to claim 7,
wherein before curing, excess the luminescence conversion material is at least partially
removed by being wiped away.
9. A method for producing at least one luminescence diode chip provided with a luminescence
conversion material comprising at least one phosphor, comprising the steps of:
- preparing a base body comprising a layer sequence that is intended for the luminescence
diode chip and is suitable for emitting an electromagnetic radiation;
- applying a photo-structurable cap layer comprising the phosphor to at least one
main surface of the base body; and
- introducing at least one cavity into the cap layer, wherein the cap layer is photo-structurable
and the course of the cross section or of the inner walls of the cavity is adjusted
at least partially by exposure to light of nonuniform intensity, so that
- its cross section becomes larger or smaller with increasing depth, or
- its inner walls extend at least partially obliquely or curvedly with respect to
a main plane of extension of the main surface.
10. The method according to one of the preceding claims,
wherein the base body is provided for a plurality of luminescence diode chips.
11. The method according to one of the preceding claims,
wherein the base body is a wafer or a carrier to which the layer sequence or a plurality
of such layer sequences is applied.
12. A luminescence diode chip comprising a base body, which is suitable for emitting electromagnetic
radiation and is provided on at least one main surface with a luminescence conversion
material comprising at least one phosphor, and the luminescence conversion material
is present as a layer whose lateral flanks are deliberately shaped, at least in part,
so as to extend obliquely or curvedly with respect to a main plane of extension of
the main surface,
characterized in that
- the luminescence conversion material is laterally adjacent to a reflective material
which comprises a photo-structurable material; or
- the luminescence conversion material comprises at least one phosphor that is present
at least partially in the form of nanoparticles.
13. The luminescence diode chip according to claim 12,
wherein the luminescence conversion material comprises at least one material from
the group consisting of silicones, siloxanes, spin-on oxides and photo-structurable
materials.
14. A luminescence diode chip comprising a base body, which is suitable for emitting electromagnetic
radiation and is provided on at least one main surface with a luminescence conversion
material comprising at least one phosphor,
characterized in that
- the luminescence conversion material comprises a photo-structurable material, and
- the luminescence conversion material comprises at least one phosphor that is present
at least partially in the form of nanoparticles.
15. The luminescence diode chip according to claim 14,
wherein the luminescence conversion material is photo-structured.
16. The luminescence diode chip according to one of claims 12 to 15,
wherein the layer has a thickness between 5 µm inclusive and 250 µm inclusive.
17. The luminescence diode chip according to one of claims 12 to 15,
wherein the layer has a thickness between 10 µm inclusive and 50 µm inclusive.
18. The luminescence diode chip according to one of claims 12 to 17,
wherein the luminescence diode chip is a thin-film luminescence diode chip.
19. The luminescence diode chip according to one of claims 12 to 18,
wherein the luminescence conversion material comprises at least one organic phosphor.
1. Procédé de fabrication d'au moins une puce à diode luminescente qui est munie d'une
matière de conversion de luminescence présentant au moins une substance luminescente,
comprenant les étapes:
- fourniture d'un corps de base qui présente une succession de couches pour la puce
à diode luminescente, laquelle est apte à émettre un rayonnement électromagnétique;
- application d'une couche de recouvrement sur au moins une surface principale du
corps de base;
- réalisation d'au moins une cavité dans la couche de recouvrement; et
- application de la matière de conversion de luminescence sur le corps de base de
manière à ce que la cavité soit complètement ou partiellement remplie, seulement une
partie de la couche de recouvrement étant sélectivement enlevée après l'application
de la matière de conversion de luminescence.
2. Procédé selon la revendication 1,
la couche de recouvrement présentant une matière photostructurable et/ou une matière
réfléchissante.
3. Procédé selon la revendication 1 ou 2,
l'enlèvement étant réalisé mécaniquement et/ou chimiquement.
4. Procédé selon la revendication 1 ou 2,
au moins également la couche de recouvrement, outre la matière de conversion de luminescence,
présentant au moins une substance luminescente.
5. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes,
le corps de base présentant sur la surface principale au moins une surface de contact
électrique pour le raccordement électrique de l'au moins une puce à diode électroluminescente,
et la cavité étant réalisée de manière latéralement décalée par rapport à la surface
de contact de la couche de recouvrement.
6. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes,
la matière de conversion de luminescence présentant au moins une matière provenant
du groupe consistant en des silicones, des siloxanes, des oxydes spin on et des matières
photostructurables.
7. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes,
la matière de conversion de luminescence étant appliquée sous forme d'une substance
liquide durcissable et étant ensuite durcie.
8. Procédé selon la revendication 7,
la matière de conversion de luminescence excessive étant enlevée au moins en partie
par raclage avant le durcissement.
9. Procédé de fabrication d'au moins une puce à diode électroluminescente qui est pourvue
d'une matière de conversion de luminescence présentant au moins une substance luminescente,
comprenant les étapes:
- fourniture d'un corps de base qui présente une succession de couches pour la puce
à diode luminescente, laquelle est apte à émettre un rayonnement électromagnétique;
- application d'une couche de recouvrement photostructurable, laquelle présente la
substance luminescente, sur au moins une surface principale du corps de base; et
- réalisation d'au moins une cavité dans la couche de recouvrement, la couche de recouvrement
étant photostructurable, et une allure de la section transversale ou des parois intérieures
de la cavité étant réglée au moins en partie par exposition irrégulièrement forte
de manière à ce que
- sa section transversale augmente ou diminue au fur et à mesure que la profondeur
augmente, ou
- à ce que ses parois intérieures s'étendent au moins en partie de manière oblique
ou courbe par rapport à un plan d'étendue principale de la surface principale.
10. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes,
le corps de base étant prévu pour une pluralité de puces à diode luminescente.
11. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes,
le corps de base étant une tranche ou un support sur lequel la succession de couches
est appliquée ou plusieurs de telles successions de couches sont appliquées.
12. Puce à diode luminescente comprenant un corps de base qui est apte à émettre un rayonnement
électromagnétique et qui est pourvu d'une matière de conversion de luminescence sur
au moins une surface principale, laquelle matière présente au moins une substance
luminescente, et la matière de conversion de luminescence étant présente en tant qu'une
couche dont les flancs latéraux sont formés, au moins en partie sélectivement, de
manière à ce qu'ils s'étendent obliquement ou de manière courbée par rapport à un
plan d'étendue principale de la surface principale,
caractérisée en ce que
- la matière de conversion de luminescence est latéralement adjacente à une matière
réfléchissante qui présente une matière photostructurable; ou
- en ce que la matière de conversion de luminescence présente au moins une substance luminescente
qui est présente au moins en partie sous forme de nanoparticules.
13. Puce à diode luminescente selon la revendication 12, la matière de conversion de luminescence
présentant au moins une matière provenant du groupe consistent en des silicones, des
siloxanes, des oxydes spin on et des matières photostructurables.
14. Puce à diode luminescente comprenant un corps de base qui est apte à émettre un rayonnement
électromagnétique et qui est pourvu d'une matière de conversion de luminescence sur
au moins une surface principale, laquelle matière présente au moins une substance
luminescente,
caractérisée en ce que
- la matière de conversion de luminescence présente une matière photostructurable,
et
- en ce que la matière de conversion de luminescence présente au moins une substance luminescente
qui est présente au moins en partie sous forme de nanoparticules.
15. Puce à diode électroluminescente selon la revendication 14,
dans laquelle la matière de conversion de luminescence est photostructurée.
16. Puce à diode électroluminescente selon l'une quelconque des revendications 12 à 15,
la couche présentant une épaisseur entre y compris 5 µm et y compris 250 µm.
17. Puce à diode luminescente selon l'une quelconque des revendications 12 à 15,
la couche présentant une épaisseur entre y compris 10 µm et y compris 50 µm.
18. Puce à diode luminescente selon l'une quelconque des revendications 12 à 17,
la puce à diode électroluminescente étant une puce à diode luminescente à couche mince.
19. Puce à diode luminescente selon l'une quelconque des revendications 12 à 18,
la matière de conversion de luminescence présentant au moins une substance luminescente
organique.