(19)
(11) EP 1 934 578 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
25.06.2008  Patentblatt  2008/26

(21) Anmeldenummer: 06761735.7

(22) Anmeldetag:  30.06.2006
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 13/10(2006.01)
G12B 21/22(2006.01)
 G12B 21/20(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2006/001131
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2007/041976 (19.04.2007 Gazette  2007/16)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
DE GB

(30) Priorität: 13.10.2005 DE 102005049562

(71) Anmelder: JPK Instruments AG
12435 Berlin (DE)

(72) Erfinder:
  • JÄHNKE, Torsten
    17279 Lychen (DE)

(74) Vertreter: Bittner, Thomas L. 
Forrester & Boehmert Pettenkoferstrasse 20-22
80336 München
80336 München (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUM UNTERSUCHEN EINES MESSOBJEKTES UND VORRICHTUNG