(19)
(11) EP 2 064 578 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
03.06.2009  Patentblatt  2009/23

(21) Anmeldenummer: 07788340.3

(22) Anmeldetag:  09.08.2007
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/36(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2007/058278
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2008/028745 (13.03.2008 Gazette  2008/11)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL PL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL BA HR MK RS

(30) Priorität: 06.09.2006 DE 102006042242

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • SIECKMANN, Frank
    44879 Bochum (DE)

(74) Vertreter: Hassenbürger, Anneliese 
Leica Microsystems GmbH Corporate Patents + Trademarks Department Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar
35578 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINES OBJEKTS MIT EINEM MIKROSKOP UND EIN MIKROSKOP