(19)
(11) EP 2 073 751 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
01.07.2009  Patentblatt  2009/27

(21) Anmeldenummer: 07787511.0

(22) Anmeldetag:  13.07.2007
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
A61C 19/04(2006.01)
G01B 11/24(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2007/057243
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2008/022850 (28.02.2008 Gazette  2008/09)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL PL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL BA HR MK RS

(30) Priorität: 25.08.2006 DE 102006039803

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • REMER, Lucius
    64546 Mörfelden-Walldorf (DE)
  • SEYFRIED, Volker
    69226 Nussloch (DE)

(74) Vertreter: Hassenbürger, Anneliese 
Leica Microsystems GmbH Corporate Patents + Trademarks Department Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar
35578 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR OPTISCHEN VERMESSUNG DES OBERFLÄCHENPROFILS VON OBJEKTEN