(19)
(11) EP 2 099 095 B8

(12) KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFT
Hinweis: Bibliographie entspricht dem neuesten Stand

(15) Korrekturinformation:
Korrigierte Fassung Nr.  1 (W1 B1)

(48) Corrigendum ausgegeben am:
26.03.2014  Patentblatt  2014/13

(45) Hinweis auf die Patenterteilung:
20.11.2013  Patentblatt  2013/47

(21) Anmeldenummer: 09002939.8

(22) Anmeldetag:  02.03.2009
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
H01Q 3/10(2006.01)
H01Q 3/20(2006.01)
G01S 13/42(2006.01)
 H01Q 3/16(2006.01)
G01S 13/89(2006.01)

(54)

Verwendung einer Vorrichtung zur zweidimensionalen Abbildung von Szenen durch Mikrowellen-Abtastung

Use of a device for two-dimensional imaging of scenes using microwaves

Utilisation d'un dispositif de représentation bidimensionnelle de scènes à l'aide d'un balayage à micro-ondes

(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 06.03.2008 DE 102008013066

(43) Veröffentlichungstag der Anmeldung:
09.09.2009  Patentblatt  2009/37

(73) Patentinhaber: Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.
51147 Köln (DE)

(72) Erfinder:
  • Peichl, Markus Dr.
    82131 Gauting (DE)
  • Dill, Stephan
    80339 München (DE)
  • Jirousek, Matthias
    82319 Starnberg (DE)
  • Berthel, Dominik
    97357 Stadelschwarzach (DE)

(74) Vertreter: von Kreisler Selting Werner 
Deichmannhaus am Dom Bahnhofsvorplatz 1
50667 Köln
50667 Köln (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
EP-A- 0 514 886
WO-A-02/066998
US-A1- 2006 017 605
 WO-A-96/17403
WO-A-2007/028472
   
  • C.A. MARTIN, J.A. LOVBERG ET AL.: "High resolution passive millimeter-wave security screening using few amplifiers" PASSIVE MILLIMETER-WAVE IMAGING TECHNOLOGY X, Bd. 6548, 13. April 2007 (2007-04-13), Seiten 654806-1-654806-10, XP002529862 Orlando, FL, USA
  • DATABASE COMPENDEX [Online] ENGINEERING INFORMATION, INC., NEW YORK, NY, US; DILL S ET AL: "Study of passive MMW personnel imaging with respect to suspicious and common concealed objects for security applications" XP002529863 Database accession no. E20085111799383 & PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING - MILLIMETRE WAVE AND TERAHERTZ SENSORS AND TECHNOLOGY 2008 SPIE US, Bd. 7117, 2008,
   
Anmerkung: Innerhalb von neun Monaten nach der Bekanntmachung des Hinweises auf die Erteilung des europäischen Patents kann jedermann beim Europäischen Patentamt gegen das erteilte europäischen Patent Einspruch einlegen. Der Einspruch ist schriftlich einzureichen und zu begründen. Er gilt erst als eingelegt, wenn die Einspruchsgebühr entrichtet worden ist. (Art. 99(1) Europäisches Patentübereinkommen).