(19)
(11) EP 2 115 385 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
11.11.2009  Patentblatt  2009/46

(21) Anmeldenummer: 08708252.5

(22) Anmeldetag:  28.01.2008
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01B 11/25(2006.01)
A61B 5/107(2006.01)
 G02B 23/24(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2008/050929
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2008/092820 (07.08.2008 Gazette  2008/32)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 02.02.2007 DE 102007005388

(71) Anmelder: Siemens Aktiengesellschaft
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • KUNZ, Martin
    81377 München (DE)
  • SCHICK, Anton
    84149 Velden (DE)
  • STOCKMANN, Michael
    83052 Bruckmühl (DE)

   


(54) REFRAKTIVE ERZEUGUNG EINES KONZENTRISCH AUFGEFÄCHERTEN STRUKTURIERTEN LICHTSTRAHLENBÜNDELS, OPTISCHE MESSVORRICHTUNG MIT REFRAKTIVEM ABLENKUNGSELEMENT