(19)
(11) EP 2 115 429 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
11.11.2009  Patentblatt  2009/46

(21) Anmeldenummer: 08707451.4

(22) Anmeldetag:  31.01.2008
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/27(2006.01)
G01J 3/10(2006.01)
G01N 21/31(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2008/000763
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2008/092685 (07.08.2008 Gazette  2008/32)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 31.01.2007 DE 102007005642

(71) Anmelder:
  • J & M Analytik AG
    73457 Essingen (DE)
  • Gea Process Engineering (NPS) Ltd.
    Eastleigh, Hampshire SO53 4ZD (GB)

(72) Erfinder:
  • ZIPFL, Peter
    73434 Aalen-Fachsenfeld (DE)

(74) Vertreter: Raunecker, Klaus Peter 
Lorenz & Kollegen Patentanwälte Partnerschaftsgesellschaft Alte Ulmer Straße 2
D-89522 Heidenheim
D-89522 Heidenheim (DE)

   


(54) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR SPEKTRALEN DIAGNOSTIK VON SUBSTANZEN UND/ODER OBERFLÄCHEN