(19)
(11) EP 2 135 061 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
23.12.2009  Patentblatt  2009/52

(21) Anmeldenummer: 08749520.6

(22) Anmeldetag:  04.04.2008
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/71(2006.01)
 G01N 33/38(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2008/054121
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2008/122622 (16.10.2008 Gazette  2008/42)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR

(30) Priorität: 05.04.2007 DE 102007016612

(71) Anmelder: BAM Bundesanstalt für Materialforschung und- Prüfung
12205 Berlin (DE)

(72) Erfinder:
  • WILSCH, Gerd
    12587 Berlin (DE)
  • SCHAURICH, Dieter
    12683 Berlin (DE)
  • WERITZ, Friederike
    10711 Berlin (DE)
  • TAFFE, Alexander
    12163 Berlin (DE)

(74) Vertreter: Zimmermann & Partner 
Isartorplatz 1
80331 München
80331 München (DE)

   


(54) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINES HETEROGENEN MATERIALS MITTELS LASERINDUZIERTER PLASMASPEKTROSKOPIE