(19)
(11) EP 2 181 350 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
07.05.2009

(43) Veröffentlichungstag:
05.05.2010  Patentblatt  2010/18

(21) Anmeldenummer: 08787083.8

(22) Anmeldetag:  11.08.2008
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/00(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2008/060508
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2009/024490 (26.02.2009 Gazette  2009/09)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL BA MK RS

(30) Priorität: 21.08.2007 DE 102007039498

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • SEYFRIED, Volker
    69226 Nussloch (DE)
  • GUGEL, Hilmar
    69221 Dossenheim (DE)
  • THOMSEN, Carsten L.
    DK-2830 Virum (DK)

(74) Vertreter: Hassenbürger, Anneliese 
Leica Microsystems GmbH Corporate Patents + Trademarks Department Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar
35578 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BELEUCHTUNG EINER PROBE IN EINEM LASERMIKROSKOP