ATBECHDEDKESFRGBGRITLILUNLSEMCPTIESILTLVFIRO..CY..TRBGCZEEHUPLSK..HRIS..MTNO........................*JBDM Ver 1.7.2 (20 November 2019) - 2999001/02223079CORRECTED EUROPEAN PATENT SPECIFICATIONB8B120200401W173deBibliographieenBibliographyfrBibliographieEP08859914.7200812082010071220161212enenen0712301420071212EP2020040120201420100901201035202002122020072019072420200401202014G01N 15/02 20060101AFI20090703BHEP deVORRICHTUNG ZUR CHARAKTERISIERUNG EINER GRÖSSENVERTEILUNG ELEKTRISCH GELADENER, SICH IN DER LUFT BEFINDENDER PARTIKEL IN EINEM LUFTSTROMenDEVICE FOR CHARACTERIZING A SIZE DISTRIBUTION OF ELECTRICALLY-CHARGED AIRBORNE PARTICLES IN AN AIR FLOWfrDISPOSITIF POUR CARACTERISER UNE DISTRIBUTION DE TAILLE DE PARTICULES AERIENNES CHARGEES EN ELECTRICITE DANS UN DEBIT D'AIREP-A- 1 681 550WO-A-00/46584WO-A-2006/016345WO-A-2006/091095WO-A-2007/000710GB-A- 2 371 362JP-A- 2008 213 711US-A1- 2005 172 735MARRA, Johanc/o High Tech Campus building 44NL-5656 AE EindhovenNLKoninklijke Philips N.V.1018511852007P00961WEHigh Tech Campus 525656 AG EindhovenNLKroeze, Johannes Antonius101489998Philips Intellectual Property & Standards High Tech Campus 55656 AE EindhovenNLATBEBGCHCYCZDEDKEEESFIFRGBGRHRHUIEISITLILTLULVMCMTNLNOPLPTROSESISKTRIB200805514020081208enWO200907494320090618200925