(19)
(11) EP 2 235 503 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
06.10.2010  Patentblatt  2010/40

(21) Anmeldenummer: 08862939.9

(22) Anmeldetag:  10.12.2008
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/47(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2008/010454
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2009/077110 (25.06.2009 Gazette  2009/26)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL BA MK RS

(30) Priorität: 19.12.2007 DE 102007061213

(71) Anmelder: Carl Zeiss MicroImaging GmbH
07745 Jena (DE)

(72) Erfinder:
  • CORRENS, Nico
    99425 Weimar (DE)
  • HOYME, Werner
    99510 Gebstedt (DE)
  • KERSTAN, Felix
    07747 Jena (DE)
  • KEUNE, Thomas
    07745 Jena (DE)
  • SCHEBESTA, Wilhelm
    07749 Jena (DE)

(74) Vertreter: Loritz, Rainer 
Carl Zeiss AG Konzernfunktion Recht und Patente Patentabteilung Jena Carl-Zeiss-Promenade 10
07745 Jena
07745 Jena (DE)

   


(54) ANORDNUNG ZUM BESTIMMEN DES REFLEXIONSGRADES EINER PROBE