[0001] L'invention concerne les circuits intégrés, notamment les dispositifs inductifs intégrés
et en particulier ceux réalisés dans les oscillateurs commandés en tension des appareils
de communication sans fil.
[0002] Actuellement, les dispositifs inductifs intégrés au sein des circuits électroniques
sont des dispositifs qui comprennent une pluralité de bobines, dites « spires ». Mais
ces spires induisent des champs électromagnétiques dans les zones voisines du dispositif
inductif et perturbent le fonctionnement des composants qui se situent dans le voisinage
proche du dispositif inductif.
[0003] En outre, les dispositifs inductifs doivent être intégrés dans des circuits qui sont
de plus en plus miniaturisés.
[0004] Il est donc avantageux de concevoir des dispositifs inductifs qui ont une surface
suffisamment faible pour être facilement intégrés dans lesdits circuits électroniques.
[0005] Par ailleurs, il est intéressant de fournir des dispositifs inductifs ayant une inductance
suffisamment élevée et qui génèrent des champs électromagnétiques les plus faibles
possibles afin de réduire les perturbations électromagnétiques au voisinage du dispositif
inductif.
[0006] On peut par exemple citer la demande de brevet américain
US 2005/0195063, qui décrit un dispositif inductif intégré comprenant deux spires coplanaires couplées
mutuellement de manière à former sensiblement un huit avec une boucle haute et une
boucle basse, lesdites spires étant sensiblement symétriques par rapport à un axe
horizontal de l'inductance. Mais ce dispositif inductif comporte dissymétrie qui entraîne
une non-homogénéité des champs électromagnétiques induits au voisinage du dispositif
inductif. Ce dispositif inductif ne permet pas non plus de réduire de manière suffisante
les champs électromagnétiques induits.
[0007] Il est donc proposé selon un mode de réalisation un dispositif inductif intégré permettant
de réduire les niveaux de couplage avec l'environnement, c'est-à-dire réduire les
champs électromagnétiques induits au voisinage de ce dispositif inductif, tout en
conservant une surface faible pour le dispositif inductif intégré considéré.
[0008] Selon un aspect, il est proposé un dispositif inductif intégré comprenant une spire
centrale disposée entre deux spires externes couplées mutuellement à la spire centrale,
de manière à former deux motifs sensiblement en forme de huit ayant une partie commune
correspondant à ladite spire centrale.
[0009] Ce dispositif permet de réduire les niveaux de couplage avec l'environnement, notamment
grâce à la spire centrale qui génère un champ électromagnétique induit opposé aux
champs électromagnétiques induits par les deux spires externes. Un tel dispositif
permet également d'obtenir un diamètre externe suffisamment faible, ce diamètre externe
étant par exemple compris entre 150 et 400 micromètres.
[0010] Avantageusement, la spire centrale est intégralement insérée entre les spires externes.
[0011] Cette disposition des spires permet d'améliorer l'homogénéité du champ électromagnétique
induit généré dans les zones voisines du dispositif inductif. Ainsi, on empêche la
création d'un champ électromagnétique induit important dans une zone privilégiée voisine
du dispositif inductif.
[0012] Le dispositif peut également comprendre un axe de symétrie situé dans le plan du
dispositif.
[0013] Ceci permet de fournir un dispositif inductif sensiblement parfaitement symétrique
(aux tolérances de fabrication près) par rapport à un axe du dispositif, ce qui améliore
l'homogénéité du champ électromagnétique induit en périphérie de ce dispositif. Par
ailleurs, un dispositif inductif qui présente une symétrie sensiblement parfaite permet
de faciliter sa fabrication et favoriser son intégration au sein d'un circuit électronique.
[0014] Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend un axe supplémentaire situé
dans le plan du dispositif et perpendiculaire audit axe de symétrie du dispositif,
chaque spire externe étant sensiblement symétrique par rapport à l'axe supplémentaire.
[0015] Selon encore un autre mode de réalisation, la spire centrale est ouverte et symétrique
par rapport audit axe de symétrie et le dispositif comprend deux moyens d'alimentation
connectés à la spire centrale au voisinage de son ouverture.
[0016] Une ouverture pratiquée au niveau de la spire centrale permet de libérer l'accès
au point milieu du dispositif inductif.
[0017] En outre, la spire centrale peut être en vis-à-vis de la totalité des spires externes.
[0018] Ainsi, les trois spires de l'inductance possèdent sensiblement un même diamètre externe,
ce qui favorise d'une part, l'homogénéité du champ électromagnétique induit, et d'autre
part, améliore la réduction des niveaux de couplage.
[0019] Selon un autre aspect, il est proposé un circuit intégré comprenant un dispositif
inductif intégré tel que défini précédemment.
[0020] Selon encore un autre aspect, il est proposé un oscillateur commandé en tension comprenant
un circuit intégré muni d'un dispositif inductif intégré tel que défini précédemment.
[0021] Selon encore un autre aspect, il est proposé un appareil de communication sans fil
comprenant un oscillateur commandé en tension tel que défini ci-dessus.
[0022] On peut ainsi, notamment, fournir un dispositif inductif intégré dans un oscillateur
commandé en tension afin de réduire les champs électromagnétiques induits provenant,
par exemple, d'un amplificateur de puissance situé dans le voisinage de l'oscillateur
commandé en tension et qui sont susceptibles de perturber le fonctionnement de l'oscillateur
commandé en tension. Un tel dispositif inductif intégré permet d'améliorer le signal
de sortie délivré par l'oscillateur commandé en tension lorsque ce dernier est placé
dans un environnement à fortes perturbations électromagnétiques.
[0023] D'autres avantages et caractéristiques apparaîtront à l'examen de la description
détaillée de modes de réalisation de l'invention, nullement limitatifs, et des dessins
annexés sur lesquels :
- la figure 1 illustre de façon schématique un mode de réalisation d'un dispositif inductif
intégré ;
- la figure 2 illustre de façon schématique des courbes d'inductance de différents dispositifs
inductifs intégrés ;
- les figure 3 et 4 illustrent de façon schématique les niveaux de couplage de trois
dispositifs inductifs intégrés ; et
- la figure 5 illustre de façon schématique un appareil de communication sans fil.
[0024] Sur la figure 1, on a représenté de façon schématique un mode de réalisation d'un
dispositif inductif intégré 1 destiné à être intégré dans un circuit intégré.
[0025] Le dispositif inductif intégré comprend une spire centrale 2 et deux spires externes
3, 4. Le dispositif inductif 1 comprend également un axe de symétrie A et un axe supplémentaire
B qui est perpendiculaire audit axe de symétrie A.
[0026] La spire centrale 2 comprend une ouverture C, située dans l'axe de l'axe de symétrie
A du dispositif inductif 1, afin de pouvoir alimenter ce dernier. Le dispositif inductif
1 comprend en outre deux moyens d'alimentation 5, 6 connectés à la spire centrale
2 et au voisinage de son ouverture C. La spire centrale 2, ainsi que les spires externes
3, 4 sont coplanaires, selon un plan P du dispositif inductif intégré 1.
[0027] L'axe de symétrie A et l'axe supplémentaire B sont également coplanaires auxdites
spires 2 à 4.
[0028] Le dispositif inductif intégré 1 comprend au moins deux niveaux de métallisation
(un niveau supérieur et un niveau inférieur) séparés par un diélectrique. On a représenté
sur la figure 1 le niveau de métallisation supérieur du dispositif inductif 1 en traits
pleins et le niveau inférieur en pointillés.
[0029] Les deux spires externes 3, 4 sont couplées mutuellement à la spire centrale 2 de
manière à former deux motifs sensiblement en forme de huit, ayant une partie commune
correspondant à ladite spire centrale 2. La première spire externe 3 est couplée mutuellement
à la spire centrale 2 par une première liaison 7. La deuxième spire externe 4 est
également couplée mutuellement à la spire centrale 2 via une deuxième liaison 8. La
première liaison 7 comporte une partie 7a sur le niveau de métallisation supérieur
et une partie 7b sur le niveau de métallisation inférieur, la partie 7b étant reliée
au niveau de métallisation supérieur par des vias (non représentés ici à des fins
de simplification). La deuxième liaison 8 comporte une partie 8a sur le niveau de
métallisation supérieur et une partie 8b sur le niveau de métallisation inférieur,
la partie 8b étant reliée au niveau de métallisation supérieur par des vias (non représentés
ici à des fins de simplification).
[0030] On a également représenté sur la figure 1 le sens du parcours D du courant traversant
le dispositif inductif 1. Le courant d'alimentation du dispositif inductif 1 entre
par le premier moyen d'alimentation 5 et sort par le deuxième moyen d'alimentation
6.
[0031] En outre, le courant d'alimentation parcourt les spires externes 3, 4 dans le sens
inverse des aiguilles d'une montre. Le courant génère ainsi dans la première spire
externe 3 un premier champ électromagnétique induit selon un premier axe de direction
E qui est perpendiculaire au plan P du dispositif inductif 1 et orienté dans une première
direction. De manière similaire, le courant génère également dans la deuxième spire
externe 4 un deuxième champ électromagnétique induit selon un deuxième axe de direction
F qui est également perpendiculaire au plan P du dispositif inductif 1 et orienté
dans la même première direction que le premier axe de direction E.
[0032] Le courant d'alimentation parcourt la spire centrale 2 dans le sens des aiguilles
d'une montre, et génère ainsi un troisième champ électromagnétique induit selon un
troisième axe de direction G qui est perpendiculaire au plan P du dispositif inductif
1 et orienté dans une deuxième direction opposée à la première direction des axes
de direction E, F des spires externes 3, 4. Ce troisième champ électromagnétique induit
permet de compenser les deux premiers champs électromagnétiques, permettant ainsi
de réduire les niveaux de couplage entre le dispositif inductif 1 et les composants
du circuit intégré situés dans le voisinage de ce dernier.
[0033] On notera que le troisième axe de direction G est situé sensiblement au point milieu
du dispositif inductif 1 et que ce point milieu est accessible à partir de l'ouverture
C de la spire centrale 2.
[0034] On notera également que les spires externes 3,4 comportent chacune un point milieu
et que les deux axes de direction E, F passent respectivement par lesdits points milieu
des spires externes 3,4.
[0035] Par ailleurs, la spire centrale 2 est intégralement insérée entre les spires externes
3, 4 de manière que les points milieu des spires externes 3,4 sont alignés avec le
point milieu du dispositif inductif. C'est-à-dire que les trois points milieux sont
alignés selon l'axe supplémentaire B, ce qui favorise l'homogénéité du champ électromagnétique
global induit par le dispositif inductif 1.
[0036] En outre, la spire centrale 2 est en vis-à-vis de la totalité des spires externes
de manière que les trois spires 2, 3, 4 ont sensiblement le même diamètre.
[0037] Sur la figure 2, on a représenté, à titre de comparaison, trois courbes d'inductance
S1, S2, S3 en fonction du diamètre externe
De du dispositif inductif intégré 1.
[0038] La première courbe S1 est obtenue à partir d'un dispositif inductif intégré comportant
une seule spire. La deuxième courbe S2 est obtenue à partir d'un dispositif inductif
intégré comportant deux spires tel que décrit dans la demande de brevet américain
US 2005/0195063. La troisième courbe S3 est obtenue à partir d'un dispositif inductif intégré 1 comportant
trois spires tel que décrit à la figure 1.
[0039] L'axe des abscisses correspond à l'inductance L d'un dispositif inductif intégré
exprimée en nano henry. L'axe des ordonnées correspond au diamètre
De du dispositif inductif intégré exprimé en micromètres.
[0040] La comparaison des trois courbes permet de mettre en évidence l'augmentation de l'inductance
L, pour un même diamètre
De, du dispositif inductif intégré 1 tel que décrit à la figure 1, par rapport à l'état
de la technique représenté par les deux premières courbes S1, S2.
[0041] Sur la figure 3, on a représenté de façon schématique trois systèmes Sy1, Sy2, Sy3
comprenant chacun un premier dispositif inductif de référence LS1 et un deuxième dispositif
inductif différent pour chaque système Sy1, Sy2, Sy3, afin de mesurer le niveau de
couplage entre chaque deuxième dispositif inductif et le dispositif inductif de référence
LS1 en vue de pouvoir comparer le niveau de couplage généré par chacun des différents
dispositifs inductifs.
[0042] Le dispositif inductif de référence LS1 comporte une spire unique.
[0043] Le premier système Sy1 comprend le premier dispositif inductif de référence LS1 situé
à une distance de 200 micromètres d'un deuxième dispositif inductif LS1 identique
au premier.
[0044] Le deuxième système Sy2 comprend le dispositif inductif de référence LS1 situé à
une distance de 200 micromètres d'un deuxième dispositif inductif LS2 comportant deux
spires tel que décrit dans la demande de brevet américain
US 2005/0195063.
[0045] Le troisième système Sy3 comprend le dispositif inductif de référence LS1 situé à
une distance de 200 micromètres d'un deuxième dispositif inductif LS3 comportant trois
spires tel que décrit à la figure 1.
[0046] Sur la figure 4, on a représenté, à titre de comparaison, trois courbes de mesure
du niveau de couplage T1, T2, T3 respectivement des trois systèmes Sy1, Sy2, Sy3 décrits
à la figure 3 précédente.
[0047] Les niveaux de couplage sont exprimés en décibels en fonction de la fréquence (en
gigahertz) du courant qui parcourt les dispositifs inductifs. On notera que l'unité
décibel (notée dB) est une unité logarithmique de mesure du rapport entre deux puissances.
Cette unité est sans dimension et définit une échelle d'intensité connue de l'homme
du métier.
[0048] La comparaison des trois courbes permet de mettre en évidence la réduction du niveau
de couplage du dispositif inductif LS3, tel que décrit à la figure 1, par rapport
à l'état de la technique représenté par les deux dispositifs inductifs LS1 et LS2.
Ainsi, on peut noter que le dispositif inductif LS3 permet d'améliorer le couplage
d'environ 15 dB par rapport au dispositif inductif LS2 tel que décrit dans la demande
de brevet américain
US 2005/0195063.
[0049] Sur la figure 5, on a représenté de façon schématique un appareil de communication
sans fil 10.
[0050] Cet appareil de communication sans fil 10 comprend une antenne 11 pour émettre et
recevoir des signaux de communication avec une station de base distante.
[0051] Cet appareil comporte une chaîne de transmission comprenant, de façon classique,
un étage de traitement numérique ETN, un étage de traitement analogique ETA et l'antenne
11.
[0052] L'étage de traitement numérique ETN génère un signal en bande de base destiné à l'étage
de traitement analogique ETA.
[0053] L'étage de traitement analogique ETA comprend notamment un mélangeur MIX, un préamplificateur
de puissance PPA, un amplificateur de puissance PA et une boucle à verrouillage de
phase PLL comportant un oscillateur commandé en tension VCO. L'oscillateur commandé
en tension VCO comprend un circuit intégré CI qui comporte au moins un dispositif
inductif intégré 1 tel que décrit à la figure 1. La sortie de l'oscillateur commandé
en tension VCO fournit un signal de transposition pour le mélangeur MIX.
[0054] Le mélangeur MIX reçoit également le signal, par exemple en bande de base, depuis
l'étage de traitement numérique ETN et transpose en fréquence le signal en bande de
base en un signal radiofréquence destiné à être émis pour la station de base distante.
Ce signal radiofréquence est amplifié par une chaîne d'amplification comprenant le
préamplificateur de puissance PPA et l'amplificateur de puissance PA, puis est émis
grâce à l'antenne 11 de l'appareil 10.
[0055] Ainsi, grâce à un tel dispositif inductif intégré 1, on réduit les niveaux de couplage
entre l'oscillateur commandé en tension VCO et, en particulier, l'amplificateur de
puissance PA, favorisant ainsi la réduction des signaux parasites provenant de l'amplificateur
de puissance PA et améliorant le signal de sortie de l'oscillateur commandé en tension
VCO.
1. Dispositif inductif intégré, caractérisé en ce qu'il comprend une spire centrale (2) disposée entre deux spires externes (3,4) couplées
mutuellement à la spire centrale (2) de manière à former deux motifs sensiblement
en forme de huit ayant une partie commune correspondant à ladite spire centrale (2).
2. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel la spire centrale (2) est intégralement
insérée entre les spires externes (3,4).
3. Dispositif selon la revendication 1 ou 2, comprenant un axe de symétrie (A) situé
dans le plan (P) du dispositif.
4. Dispositif selon la revendication 3, comprenant un axe supplémentaire (B) situé dans
le plan (P) du dispositif et perpendiculaire audit axe de symétrie (A) du dispositif,
chaque spire externe (3,4) étant sensiblement symétrique par rapport à l'axe supplémentaire
(B).
5. Dispositif selon l'une des revendications 2 à 4, dans lequel la spire centrale (2)
est ouverte et symétrique par rapport audit axe de symétrie (A) et le dispositif comprend
deux moyens d'alimentation (5,6) connectés à la spire centrale (2) au voisinage de
son ouverture (C).
6. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 5, dans lequel la spire centrale (2)
est en vis-à-vis de la totalité des spires externes (3,4).
7. Circuit intégré comprenant un dispositif inductif intégré selon l'une des revendications
1 à 6.
8. Oscillateur commandé en tension (13), comprenant un circuit intégré selon la revendication
7.
9. Appareil de communication sans fil (10) comprenant un oscillateur commandé en tension
(13) selon la revendication 8.